本セミナーでは、各種材料の低抵抗および高抵抗領域における抵抗率測定について、抵抗と測定の原理、測定の基礎と、測定法にあたっての注意点を解説いたします。
正しい測定法を学びたい初学者はもちろん、データがばらつく、データが理論や想定と合わない、形状が複雑な材料の測定、抵抗率が不均一な材料の測定等、実際の測定場面で課題に直面している方々にもおすすめします。
日時
- 2013年5月22日 12時30分〜 2013年5月22日 16時30分
開催予定
プログラム
- 抵抗と抵抗率
- 低抵抗領域の測定
- テスターで測ると何故不安定なのか?
- テスターでの測定はダメなのか?
- 4端子法と2端子法
- 接触抵抗とは?
- 4探針法とは?
- 4探針法と4端子法の違い
- 表面抵抗率と体積抵抗率の使い分け
- 傷が付き易い試料の測り方
- 薄膜の抵抗率測定
- 高抵抗領域の測定
- 2重リング法とは?
- 表面抵抗率と体積抵抗率の測り方は違うのか?
- JIS K6911とは?
- ガード電極は必要か?
- 温度や湿度で抵抗値が変わるのか?
- 印加電圧や測定時間はどのように決めるのか?
- 高抵抗薄膜の測定
- 中間領域の試料は定電流印加法と定電圧印加法のどちらで測るか?
- 粉体の抵抗はどうやって測るか?
- 高温や低温下での低抵抗測定は?
会場
受講料
- 1名様: 40,000円(税別) / 44,000円(税込)
割引特典について
- S&T出版からの案内登録をご希望の方は、割引特典を受けられます。
- STbook会員登録を希望する: 1名 39,900円 (税込)
- STbook会員登録を希望しない: 1名 42,000円 (税込)