本セミナーでは、蛍光X線分析の原理、装置構成を説明し、いくつかの分析例 (環境試料、工業製品、表面層解析を解説いたします。
また、発展編として、微小部蛍光X線分析、元素マッピング、および全反射蛍光X線分析法による微量分析について解説いたします。
製造現場において様々な元素分析のニーズがある。例えば、製品の品質保証の観点から、製品中の元素組成が一定かどうか、メッキ膜の厚さが均質化どうか、試料中にどのような元素がどの程度含まれているかを知りたい、製品中に入っていた異物が何で、その発生源はどこなのか、など様々な課題が生じる。このような場面において、蛍光X線分析法は答えを導く解決法の1つとなる。他の元素分析法 (例えば、ICP発光/質量分析法やSEM-EDSなど) と比較して、蛍光X線分析法の特徴は大気中で、非接触に、直接、固体や液体試料を元素分析することができる点である。 本講義では、蛍光X線分析の原理、装置構成を説明し、いくつかの分析例 (環境試料、工業製品、表面層解析、を紹介する。さらに、発展編として、微小部蛍光X線分析、元素マッピング、および、全反射蛍光X線分析法による微量分析についても解説する。
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