本セミナーでは、高分子の表面・界面構造解析について取り上げ、反射波の干渉現象、界面構造を解析する原理、使用するプローブ (波) の特性によって得られる情報の違いについて解説いたします。
特に、量子ビームを用いた界面構造解析の高分子材料への応用について具体的な事例を交えて解説いたします。
日時
- 2026年7月8日 13時00分〜 2026年7月8日 16時00分
中止
プログラム
表面・界面でのナノメートルスケールの構造が材料全体のマクロな特性に大きな影響を与えることがあるため、材料の開発を行うに当たっては表面・界面の構造を正確に評価する必要がある。その手段として、反射干渉法は表面・界面に垂直方向の物質分布を高精度で知ることができる有力な手法の一つである。 本セミナーでは反射波の干渉現象から界面構造を解析する原理について説明するとともに、使用するプローブ (波) の特性によって得られる情報の違いについて解説する。特にX線や中性子といった量子ビームを用いた界面構造解析の高分子材料への応用について具体的な事例について述べる。また、最近の構造解析技術の進展についても紹介する。
- 反射干渉分光法の基礎
- 表面・界面での波の反射と干渉
- Snellの法則とParrattの漸化式
- フィッティング解析による界面構造の評価
- 様々なプローブを使った反射干渉法の特徴
- 測定・解析のポイントと注意点
- 高分子材料の表面・界面解析への応用
- 薄膜中の高分子鎖の拡散現象の評価
- 接着界面のナノ構造解析
- 反射干渉分光法の最近の進展
- 反射干渉・斜入射散乱トモグラフィー
- データサイエンスの活用
- 質疑応答
受講料
- 1名様: 45,000円(税別) / 49,500円(税込)
- 複数名: 22,500円(税別) / 24,750円(税込)
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ライブ配信セミナーについて
- 本セミナーは「Zoom」を使ったライブ配信セミナーとなります。
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