本セミナーでは、信頼性物理や信頼性試験技術を中心に、故障メカニズム、故障の加速モデルと検出感度の向上と効率化のためのTEGの設計、ストレス印加方法及び、それに伴い必要な解析、計測技術について解説いたします。
信頼性は信頼性物理に基づいた信頼性検証・設計を実現することが、困難であるようで実は最も近道であることは、世の中で信頼性に起因した大きな技術課題として衆目を集めていないことからも明確である。一方創り込みの現場では信頼性の創り込みに対して課題を抱えている企業は決して少なくはない。その要因としては、多くの企業が「新しい機能を持ったデバイスの創造」や「新規事業分野の創出」する活動に積極的に取り組んでいる過程の中で、それらの品質・信頼性を如何に迅速且つ確実に創り込むかに苦労している現状がある。 さて皆様は既に、信頼性を創り込めたか否かは、信頼性試験で検証すると既にご認識されてらっしゃるでしょうが、漫然と信頼性試験を行っても時間とコストがかかるだけで有効な検証にはならないことを理解いただいていると思います。 本講座の目的は、あくまで物理的に信頼性を保証するために、有効な検証技術としての信頼性試験技術をレクチャー致します。講師の経験等から考え付いたことは、以下の4ステップです。
近年の信頼性試験技術は、TEG構造、ストレス種、劣化する計測特性、等を開発・設計し、アイテムを物理的に信頼性保証することを目的といたしております。従って研究開発及び設計ステージにおいて、信頼性の知識・技術を保有した技術者達が、信頼性物理に基づいた信頼性試験等を企画・開発し、信頼性が創り込めていると確信を持つことが最も重要な活動であると言えます。更に確信が持てたうえで次ステージでは、抜け漏れが無いように様々なストレスを加えた信頼性試験を実施し、最終的には顧客・社会に対して信頼性保証が確実であることを実証する為に、数と時間を使った信頼性試験も時には必要となります。 本セミナーでは主として研究開発、設計段階で、デバイス・部品の構造・機能・性能が市場での保存・輸送及び稼働時にストレスによって起こる故障を、物理的に可視化するための信頼性物理について詳細に説明いたします。更に信頼性試験技術を中心に、必要な故障メカニズムの解明、故障の加速モデルと検出感度の向上と効率化のためのTEGの設計、ストレス印加方法及び、それに伴い必要な解析、計測技術について紹介いたします。
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