本セミナーでは、X線光電子分光法 (XPS) の原理、放射光を用いた最近の光電子分光分析例、測定における注意事項、解析の流れと注意事項を分かりやすく説明いたします。
日時
- 2025年12月22日 13時00分〜 2026年1月5日 16時00分
中止
プログラム
本セミナーでは、X線光電子分光法 (XPS) の原理、放射光を用いた最近の光電子分光分析例の紹介、測定における注意事項、解析の流れと注意事項を分かりやすく説明いたします。
- はじめに
- X線光電子分光法 (XPS) の原理
- XPSから得られる情報
- 他の表面分析手法との比較
- 放射光を用いた最近の光電子分光分析例の紹介
- 硬X線光電子分光法を用いた最近の分析例
- 角度分解光電子分光測定 (ARPES) を用いた最近の分析例
- 試料作成と測定時の留意事項
- 試料作成時の注意事項 (表面分析において、試料についてやってはいけないこと)
- 試料が帯電する理由と対処
- 解析の流れと留意事項
(解析の流れは、主にSiO2/Si構造のXPS結果を用いて説明いたします)- 背景信号
- ピーク分離
- 損失スペクトルを用いたバンドギャップの測定
- 深さ方向分析の原理と例
- 定量分析
- まとめ
- 光電子スペクトル解析時の注意事項と対策
- 表面分析において、分析試料についてやってはいけないこと
- まとめ
受講料
- 1名様: 45,000円(税別) / 49,500円(税込)
- 複数名: 22,500円(税別) / 24,750円(税込)
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- 視聴期間は2025年12月22日〜2026年1月5日を予定しております。
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