本セミナーでは、X線光電子分光法 (XPS) の原理、放射光を用いた最近の光電子分光分析例、測定における注意事項、解析の流れと注意事項を分かりやすく説明いたします。
日時
- 2025年12月19日 13時00分〜 2025年12月19日 16時00分
中止
プログラム
本セミナーでは、X線光電子分光法 (XPS) の原理、放射光を用いた最近の光電子分光分析例の紹介、測定における注意事項、解析の流れと注意事項を分かりやすく説明いたします。
- はじめに
- X線光電子分光法 (XPS) の原理
- XPSから得られる情報
- 他の表面分析手法との比較
- 放射光を用いた最近の光電子分光分析例の紹介
- 硬X線光電子分光法を用いた最近の分析例
- 角度分解光電子分光測定 (ARPES) を用いた最近の分析例
- 試料作成と測定時の留意事項
- 試料作成時の注意事項 (表面分析において、試料についてやってはいけないこと)
- 試料が帯電する理由と対処
- 解析の流れと留意事項
(解析の流れは、主にSiO2/Si構造のXPS結果を用いて説明いたします)- 背景信号
- ピーク分離
- 損失スペクトルを用いたバンドギャップの測定
- 深さ方向分析の原理と例
- 定量分析
- まとめ
- 光電子スペクトル解析時の注意事項と対策
- 表面分析において、分析試料についてやってはいけないこと
- まとめ
受講料
- 1名様: 45,000円(税別) / 49,500円(税込)
- 複数名: 22,500円(税別) / 24,750円(税込)
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- 視聴期間は2025年12月22日〜2026年1月5日を予定しております。
ご視聴いただけなかった場合でも期間延長いたしませんのでご注意ください。