FT-IRを使用した異物分析

本セミナーは、FT-IRを異物分析で活用すること、問題解決や解析において関係者間の情報が重要であることに焦点をあてたセミナーです。 　異物分析において重要なことは、迅速かつ簡便に原因を知り、異物クレームへ の対処や異物発生の抑制へとつなげることにあります。本講演では、目に見える数百μm〜の異物を対象に、異物の収集方法やその際に確認すべき情報と提供すべき情報、FT-IRを使用した測定と解析方法、問題解決といった一連の流れを解説します。問題解決までの一連の操作がご理解いただけるように、なるべく多くの事例を用いて話を進めていきます。 　異物の分析手順、FT-IRの基礎的事項の確認、本体のATR法を中心に測定方法別のきれいなスペクトルを得るコツ、解析方法、実施例と話を進めていきます。

1. はじめに
   1. 分析の目的
   2. コミュニケーション
2. 異物の概要
   1. 異物とは何か
   2. 異物の種類
3. 異物の分析方法
   1. 異物分析で大切なこと
   2. 異物分析の手順
   3. 製造工程でわかること
   4. 観察でわかること
   5. 異物のサンプリングと失敗例
   6. 情報収集
   7. 問題解決に向けてのアプローチ
4. FT-IRの概要と解析
   1. 異物分析の中のFT-IR
   2. FT-IRの概要
      1. FT-IRでどんな情報が得られるのか
      2. FT-IR測定での約束事
   3. 異物でよく使用されるFT-IRの測定方法
   4. 異物の大きさと空間分解能
   5. 測定方法別のきれいなスペクトルを得るコツ
   6. FT-IR測定のためのサンプリングと前処理
   7. スペクトルの解析
      1. よく使われるスペクトルの処理とそれを使用した解析
      2. データベースをうまく使う
      3. 問題解決のための解析とは何か
5. FT-IR以外の分析装置
   1. SEM-EDS
   2. 蛍光X線
   3. GC、GC-MSおよびLC
6. 異物分析の事例 (各項目を数例紹介)
   1. 分散不良による異物分析
   2. 食品中の異物分析
   3. 劣化に起因した異物分析
   4. 歩留まり向上のための異物分析
   5. 再現実験によって起因物質を検証した異物分析
   6. FT-IRではできなかった不具合分析
7. よくある質問
   1. サンプリングに関すること
   2. スペクトルに関すること
   3. その他
8. 質疑応答