粉末X線回折を用いた結晶分析

粉末X線回折図形には、含有物質とその含有量、格子定数、結晶子サイズや格子歪みなど、多くの結晶パラメータが含まれています。すなわち、回折図形を上手に活用 (解析) すると様々な結晶の情報を引き出すことができます。 　但し、解析目的に応じた測定を行わないと、回折データを上手に活用することはできません。近年のX線回折計には、多種に渡る光学系、試料ステージ、検出器を装着することができ、その組み合わせから、より質の高いX線回折図形を測定することがでます。質の高いデータは、解析を行う上で大きな助けになることがあります。 　また、解析方法や手順により、解析結果より信頼性のない数値を取得してしまうこともあります。粉末X線回折図形の解析方法は多種多様であるが、解析ソフトウェア技術の進歩により、容易に数値データを取得することができます。しかし、その精度をしっかりと吟味しなければ無駄な数値となってしまいます。 　できるだけ精度の高いX線回折結果の取得を目的として、本セミナーでは、X線回折の原理から測定条件の最適化、回折データの前処理条件、そして各種解析方法とその結果の検討方法について説明いたします。

1. X線回折の原理
2. より良い測定結果を取得するために
   1. 測定試料の調整方法のポイント
   2. 最適な光学系の選択方法
   3. 測定条件の最適化
3. 解析に必要なデータ前処理
   1. 各種データ処理について
   2. 解析に必要/不必要なデータ処理
   3. データ処理の際に注意したいこと
4. 定性分析に必要なこと
   1. リファレンスデータベースの種類と内容
   2. 定性分析に必要な前情報
   3. 定性分析の手順
5. 定量分析とその結果についての吟味
   1. 検量線法から最新の定量分析法までのご紹介
   2. リートベルト解析法を用いた定量方法
6. その他解析方法
   1. 結晶化度、格子定数精密化、結晶子サイズ・格子歪みなどの解析方法とその事例の紹介
   2. 多変量解析を用いた機械学習による自動解析方法