第1部 パワー半導体向け銀焼結接合および新規接合材料と信頼性評価
(2025年3月25日 10:30〜12:00)
SiCやGaNなどのワイドバンドギャップ (WBG) 半導体材料を利用し、省エネ高効率化と小型軽量化の双方を兼ね備えるパワーデバイスの実現には、実装の長期信頼性構築が不可欠である。そのため、WBGパワーデバイスが曝される200°C〜300°Cの高温度領域でも動作保証する放熱材料、構造、冷却技術の革新的な技術の開発と信頼性評価が必要となる。
この講座では高耐熱と高熱伝導率の焼結Agペーストを紹介し、新しい高機能性高信頼性の複合焼結実装材料とシート状実装材料の開発、またそれによる接合構造の新展開、構造信頼性と大面積接合をわかりやすく、解説する。
- WBGパワー半導体
- WBGパワー半導体の特徴
- WBGパワーモジュールの構造および開発動向
- 高温向けに求める実装技術
- 鉛フリーはんだと固液相接合
- 金属粒子焼結接合
- 低温固相接合
- 銀粒子焼結接合技術と異種材界面の接合
- 銀粒子焼結接合技術の特徴
- 新型ミクロンサイズ銀粒子の低温焼結
- 異種材界面接合とメカニズム
- 新型銀の複合ペースト焼結接合
- 新型銀ーシリコン粒子複合ペースト構造信頼性
- 新型銀ーアルミ粒子複合ペースト構造信頼性
- 銅ペースト接合と信頼性評価
- 銅ペースト焼結と性能評価
- 銅ペーストの信頼性評価
- シート型接合材料について
- 銀ポーラスシート接合
- 他シート型接合技術
第2部 焼結銀接合に適用可能な低温焼結性銀ナノ粒子の開発
(2025年3月25日 13:00〜14:30)
パワー半導体デバイスの実装に用いられる焼結銀接合材に関して、構成成分の一つである銀ナノ粒子について述べる。あわせて焼結銀接合の用途別に銀ナノ粒子の開発事例を紹介する。
- 焼結銀接合について
- 焼結銀接合材とは
- 接合方法とその特徴について
- 銀ナノ粒子について
- 銀ナノ粒子とは
- 粒子設計と最密充填
- 銀ナノ粒子の合成について
- 各種プロセスに合わせた銀ナノ粒子の開発事例
- 加圧プロセス
- 無加圧プロセス
第3部 SiCデバイス接合へ向けた銀焼成接合材の機械特性評価
(2025年3月25日 14:45〜16:15)
SiCパワーデバイスは、電力ロスが少ないため。パッケージ品の大電力密度化へ期待されている。この優れたSiCの特性を活かすためには、異種材との高耐熱・熱伝導接合が重要になる。さらに、実駆動を模擬した信頼性試験後も、特性保持し続ける必要がある。
本講座は、銀焼成材の熱信頼性に焦点を当て、将来の新パッケージに必要な評価方法について説明する
- 大電力パワー密度パッケージ化へ向けて
- ワイドバンドギャップ半導体
- ダイボンディング技術
- 低熱抵抗パッケージ
- 熱信頼性試験後の課題と評価方法
- 銀焼成材の薄膜引張機械特性
- 銀ペースト
- 焼結プロセス
- 銀焼成の空孔組織
- 一軸引張試験
- 破面観察
- 銀焼成接合体の信頼性試験評価
- 信頼性試験評価技術
- ダメージパラメータの考え方
- 接合劣化度の分析結果
- 銀焼成材の劣化メカニズム
- 凝集破壊の駆動力
- 空孔成長の駆動力
- SEM内In-situ引張試験技術
- 結言:熱信頼性試験評価フローの考え方
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