AFM (原子間力顕微鏡) を所有しているが使いこなせない、AFMのデータ解析が難しい、フォースカーブがよく分からない、カンチレバーの選択法が分からない、AFMを導入したいが判断しにくい、などの様々な悩みを抱えているユーザーが多くなっています。AFMは「ナノテクノロジーの目」とも言われておりSEMなどと同様に高機能分析機器として一般化しつつあります。また小型で安価なことから企業の基礎開発部門に多く導入されるようになってきました。
しかしながら、実際に適切で効果的なAFM測定を行うには、基本原理や測定方法、そして解析方法などの基礎を習得する必要があり、測定が不調の場合は原因が不明のままとなり、活用範囲も形状観察程度の利用に留まっているケースが多く見受けられます。AFMを用いれば、試料表面の諸性質 (弾性率、導電性、帯電性、加工、相互作用力、付着性など) 、微粒子やレジストパターンなどの微小固体の諸性質 (付着性、マニピュレーション、帯電性) 、特殊測定 (液滴形状、ナノバブル観察) など、幅広い解析が効果的に行えます。
本セミナーでは、汎用性の高い大気中および液中測定用のAFMを中心に豊富なデータに基づき解説します。これからAFMの導入を検討される方、初めてAFMを操作される方にも分かりやすく装置の基本原理や操作方法、データの取得や解析方法についてまで解説します。特に、講師の経験に基づいて、AFMを導入および使用するユーザー側の視点に立って、技術ポイント、豊富な応用例や測定ノウハウを分かり易く解説します。また、AFMに関する日頃のトラブル対策や技術開発相談にも対応します。
- AFMの原理・基礎のポイント (これだけは理解しておきたい)
- AFM誕生の舞台裏 (開発の歴史)
- AFMでできること (長所と短所)
- AFMの基本システム構成 (基本ハード構成)
- カンチレバー
- ピエゾ素子
- レーザー光学系
- 付帯設備
- 共振制御
- AFMの動作モード (ナノフォース検出)
- コンタクト
- ノンコンタクト
- タッピング
- フィードバック方式
- 原子間力とは (測定の基本データ)
- L.J. potential
- Van der Waal’s力
- London分散力
- Keesom極性力
- クーロン力
- 原子/分子像が得られる理由 (ばね定数の最適化)
- フォースカーブの理解 (AFMの動作ポイント設定方法)
- pull-in/pull-off力
- potential場
- Qカーブ
- 振幅/位相検出
- 表面像の不確定要素 (得られた像は実像なのか?)
- ナノスケールの寸法校正 (原子配列の観察)
- マイカ格子配列
- ピエゾ非線形問題
- ばね定数の変動問題
- AFM測定の誤差要因 (精度の高い測定のために)
- AFMシステム
- カンチレバー探針
- 測定資料の最適化
- 適切なAFMの機種選定方法 (導入後の最適な運用ために)
- AFMの最適化のノウハウ (サンプル作製、性能維持と動作不良対策)
- 設置環境からのノイズ対策 (バックグラウンドノイズ対策)
- 測定サンプルの作成と調整と保存 (ソフトノイズ対策)
- 薄膜
- 微粒子
- 粘性液体
- バブル
- 吸着水
- 有機汚染と保管方法
- 探針先端へのサンプル修飾 (機能性向上)
- カンチレバーと探針の性質 (どのようにして選ぶのか)
- 材質
- 先端曲率半径
- マッチング感度
- ばらつき
- ばね定数の校正
- 探針のメンテナンス方法 (汚染と摩耗対策)
- 探針の追従性とノイズ対策 (クリアな像を得るには)
- 表面の吸着水の影響 (湿度依存性)
- 光学系の最適化 (感度校正)
- ピエゾステージのドリフト対策 (熱対策)
- サンプルの表面粗さ依存性 (接触面積の影響)
- 液中での測定方法
- 各種サンプルの測定条件の最適化
- AFMの有効活用のポイント (適用事例と解析方法)
- 探針と試料表面との接触変形とは
- 固体表面の動的粘弾性測定
- 固体表面の凝集性解析
- 固体表面の弾性率測定
- 表面エネルギーの測定
- 表面吸着性の解析
- 化学力顕微鏡 (CFM) への応用
- 薄膜及び微細パターンの付着性解析
- 微粒子の付着性/除去特性 (凝集分散解析)
- 粒径依存性
- Derjaguin近似
- マニピュレーション
- ナノペースト粒子の凝集性
- 微粒子の核成長と平坦性
- 固体表面の帯電制御
- 微小液滴およびファインバブル観察
- 微小固体のナノマニピュレーション
- 微細パターン描画 (ナノ陽極酸化法)
- 質疑応答
- 日頃の技術開発・トラブルの個別相談に応じます。
- 付録資料
- 表面エネルギーによる濡れ・付着性解析
複数名受講割引
- 2名様以上でお申込みの場合、1名あたり 25,000円(税別) / 27,500円(税込) で受講いただけます。
- 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 38,200円(税別) / 42,020円(税込)
- 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 50,000円(税別) / 55,000円(税込)
- 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 75,000円(税別) / 82,500円(税込)
- 同一法人内 (グループ会社でも可) による複数名同時申込みのみ適用いたします。
- 請求書は、代表者にご送付いたします。
- 請求書および領収書は1名様ごとに発行可能です。
申込みフォームの通信欄に「請求書1名ごと発行」とご記入ください。
- 他の割引は併用できません。
- サイエンス&テクノロジー社の「2名同時申込みで1名分無料」価格を適用しています。
アカデミー割引
教員、学生および医療従事者はアカデミー割引価格にて受講いただけます。
- 1名様あたり 10,000円(税別) / 11,000円(税込)
- 企業に属している方(出向または派遣の方も含む)は、対象外です。
- お申込み者が大学所属名でも企業名義でお支払いの場合、対象外です。
アーカイブ配信セミナー
- 「ビデオグ」を使ったアーカイブ配信セミナーとなります。
- 当日のセミナーを、後日にお手元のPCなどからご視聴ができます。
- お申し込み前に、 視聴環境 をご確認いただき、 視聴テスト にて動作確認をお願いいたします。
- 別途、ID,パスワードをメールにてご連絡申し上げます。
- 視聴期間は2025年2月17日〜3月3日を予定しております。
ご視聴いただけなかった場合でも期間延長いたしませんのでご注意ください。
- セミナー資料は、PDFファイルをダウンロードいただきます。
- ご自宅への書類送付を希望の方は、通信欄にご住所・宛先などをご記入ください。
- ご視聴は、お申込み者様ご自身での視聴のみに限らせていただきます。不特定多数でご覧いただくことはご遠慮下さい。
- 講義の録音、録画などの行為や、権利者の許可なくテキスト資料、講演データの複製、転用、販売などの二次利用することを固く禁じます。