ベイズ推定を用いたデータ解析

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本セミナーでは、ベイズ推定の基礎から実装までを解説し、どのように応用できるのかをX線光電子分光スペクトルや磁気コンプトン散乱データを例にとって説明いたします。

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プログラム

本講義では、従来のデータ解析では推定できなかった間接測定量の推定精度は、ベイズ推定を用いることで推定可能となるだけでなく、測定により取得したデータから測定パラメータからモデルに基づく物性パラメータまで精度付きで推定可能となります。またベイズ推定の基礎から実装までを解説し、どのように応用できるのかをX線光電子分光スペクトルや磁気コンプトン散乱データを例にとって説明いたします。

  1. ベイズ推定を用いたデータ解析
    1. 従来のデータ解析とその問題点
    2. ベイズ推定を用いる意義
  2. ベイズ推定の基礎
    1. ベイズの定理
    2. メトロポリス法と交換レプリカモンテカルロ法
    3. ベイズ推定の実装
  3. ベイズ推定の応用例 (X線光電子分光データと磁気コンプトン散乱データを用いて)
    1. X線光電子分光測定スペクトルのベイズ解析
      1. ベイズ推定によるスペクトル分解
      2. 実際のデータへの適用
      3. ハイパーパラメータチューニング
    2. 磁気コンプトン散乱プロファイルのベイズ解析
      1. 磁気コンプトン散乱測定について
      2. 磁気コンプトン散乱測定の終了条件設定
    3. 時分割X線回折測定のベイズ解析
      1. 時分割X線回折測定について
      2. 時分割X線回折測定からの反応モデル推定

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