本セミナーでは、微量異物の正確な捉え方、その分析手段・成分特定および対策について基礎から実例を交えた実践まで詳解いたします。また劣化解析についても説明いたします。
日時
- 2012年9月21日 10時30分〜 2012年9月21日 16時30分
開催予定
プログラム
近年、技術の進歩や製品の多種多様化により異物や異常が複雑かつ微小・微細化しております。 本セミナーではその様な微量異物の正確な捉え方、その分析手段・成分特定および対策など実施例を踏まえて説明いたします。これにより異物分析デザインを構築する能力が身につけば幸いである。また、樹脂・ゴム類の劣化解析についても一部分ではあるが触れていきます。
- 異物とは
- 異物の定義・異物分析の歴史・形態の分類
- 異物の発生原因 (推定) と事例
- 異物分析の目的とPL法について
- 異物分析方法
- 一般的な異物分析方法
- 分析方法の選択
- 異物分析に用いられる分析機器の特徴と使用ポイント ~顕微FT-IR,EPMA,顕微イメージング,レーザーラマン,TOF-SIMS,SEM,TEMなど各装置の利点 (欠点) ~
- 異物のサンプリング法・前処理法の選択
- 異物のサンプリングの実際
- 異物の前処理法
- 異物分析事例
- 顕微FT-IRを用いた分析事例
- その他の分析機器を用いた分析事例
- スペクトル解析のコツ
- 赤外吸収スペクトルの解析
- EPMAスペクトルの解析
- Py-GCMSスペクトル他の解析
- 技術トピックス
- 複数の機器・手法を用いた解析事例
- 失敗例
- ゴムの劣化解析
- 実証と対策
- 実証と対策
- 異物分析デザイン
- 質疑応答・名刺交換・個別相談
会場
受講料
- 1名様: 47,600円(税別) / 52,360円(税込)
割引特典について
- R&D支援センターからの案内登録をご希望の方は、割引特典を受けられます。
- 1名でお申込みいただいた場合、1名につき47,250円 (税込)
- 2名同時にお申し込みいただいた場合、2名で49,980円 (税込)
- 案内登録をされない方は、1名につき49,980円 (税込)