本セミナーでは、散乱法を用いた構造解析について、基本的な事項を中心に解説いたします。
その中でも、溶液中の粒子の粒径分布計測法として広く知られている動的光散乱法について詳しく解説を行います。
また、散乱光強度のゆらぎの起源について干渉を基に解説し、ゆらぎの解析法について演習を交えて紹介いたします。
数nm〜数百nmサイズの物体の形状測定は、ナノテクノロジーの根幹を成す基礎技術である。高精度な形状測定法として広まっている技術として電子顕微鏡が挙げられ、実際に多くのナノスケール構造解析において中心的役割を果たしている。これに対し、特に高分子やコロイド分散液中の溶質の構造測定法として広く使われている手法に、散乱法が挙げられる。実用面から見た散乱法の最大の利点は、試料を真空中に置く必要がないため、溶液状態のまま計測できる点にある。溶媒に分散している分子や粒子は、溶媒がなくなるとその構造を変えるため、溶液状態での構造測定は大変重要である。 本セミナーでは、散乱法を用いた構造解析について、基本的な事項を中心に解説を行う。その中でも、溶液中の粒子の粒径分布計測法として広く知られている動的光散乱法について詳しく解説を行う。動的光散乱法は散乱法の中では特殊で、散乱光強度のゆらぎから粒径を推定する。そこで、散乱光強度のゆらぎの起源について干渉を基に解説し、ゆらぎの解析法について演習を交えて紹介する。
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