X線応力測定法は広く産業・学術研究に利用されており、様々な企業や研究機関に導入されている。装置の進化により専門家でなくとも簡単にX線応力測定が行えるようにもなってきている。X線測定はとても有用で簡便な方法であるが、測定対象の組織や応力状態によっては出力される解析結果が妥当でない場合も少なくなく注意を要する。そのため最適な条件設定や適切な結果の妥当性の判断にはX線応力測定法の理論など理解が欠かせない。
本セミナーではX線応力測定業務に従事しているが、その理論の理解は十分ではないという方を主たる対象として講義する。講義内容はX線回折の基礎や応力・ひずみの説明から始め、sin2ψ法による応力解析法の理解、また材料の組織や応力状態が測定・解析に与える影響についてとする。
- はじめに (背景・講義のアウトライン)
- X線回折の基礎
- X線源
- 結晶構造
- 結晶からの回折
- 応力解析理論
- 応力とひずみ
- 回折角とひずみ
- sin2ψ法
- sin2ψ法の基礎式
- 応力定数
- ψ角の傾斜方向と測定系
- 応力解析の実際
- 応力測定装置
- 回折線とsin2ψ線図
- まとめ
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