先行技術調査における検索式の作成と検索漏れの防ぎ方

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本セミナーでは、特許検索の精度を高めるためのテクニックを実習を通して解説いたします。
また、漏れの無い検索式の立て方と検索結果の評価・検証方法のポイントを解説いたします。

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プログラム

一般に先行技術調査は、出願前の発明について簡易な調査を行うものというイメージが強いですが、出願の可否や適切な出願内容を検討する上で非常に重要な調査です。本講演では、先行技術調査における検索式作成のための基礎知識や、漏れの無い検索式の立て方、検索式を評価・検証する前にチェックすべきポイント、検索式と検索結果の評価・検証方法、検索式の修正方法ついて解説します。本講演を通して、先行技術調査の検索式を漏れ無く作成するための基礎知識を得ることができます。本講演はJ-PlatPatを用いながら進めていきます。  本講演で得られる知識は先行技術調査だけではなく、侵害予防調査や無効資料調査等、その他の調査にも応用可能です。

  1. 先行技術調査における検索式作成のための基礎知識
    1. 先行技術調査とは
    2. 特許公報の読み方について
    3. 特許分類の基礎知識
      1. FI
      2. Fターム
      3. IPC
    4. キーワード検索について
  2. 漏れの無い検索式の立て方と検索式のチェックポイント
    1. 構成要件の把握と検索方針の決定
    2. キーワードを用いた予備検索
    3. 特許分類を用いた多観点の検索式
    4. 同義語、類義語を用いたキーワードの展開
    5. 近接演算について
    6. 特許分類を用いない検索式の併用
    7. 適切な件数の母集団とする方法
    8. 検索式を評価・検証する前にチェックすべきポイント
  3. 検索式と検索結果の評価・検証方法、検索式の修正方法
    1. 特許分類を用いたキーワードの事前評価・検証と修正
    2. キーワード検索を用いた特許分類の事前評価・検証と修正
    3. 検索結果の評価・検証と修正
      1. ピックアップ公報とその審査経過情報による評価・検証と修正
      2. 必要な検索結果が得られなかった場合の考え方

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