異物分析における最適な前処理・分析手法の選択の基礎、データの解析と考察

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本セミナーでは、異物分析における前処理技術から機器分析原理まで詳しく解説いたします。

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プログラム

異物は、メーカーにおいて永遠のテーマで解決すべき課題である。異物の種類やサイズは多種多様で、最適な前処理や分析手法を選択する必要があります。
本講座にて、それらの基礎を学び、また得られたデータが示す意味を理解習得することで異物による不良を低減し、コストダウンにもつながり、また分析技術者としての基本的な考え方を身に着ける。

  1. 異物発生原因
    1. 製品素材起因
    2. 素材変質劣化起因
    3. 製造ライン起因
    4. 梱包材起因
    5. 人員起因
  2. 必要な知見と専門性
    1. 無機化学
    2. 有機化学
    3. 物理化学
    4. 分子、原子、電子の挙動
  3. 分析解析の流れ
    1. 分析の目的
    2. サンプル採取
    3. 前処理
    4. 分析装置へ導入
    5. データ解析
  4. 分析装置、およびその事例
    1. 前処理装置
    2. マニピュレータ
    3. ミクロトーム
    4. 研磨
    5. クロスセクションポリッシャー
    6. FIB
    7. 分析装置
    8. FT-IR
    9. ラマン
    10. EDX
    11. EPMA
    12. AES
    13. XPS
    14. TOF-SIMS
    15. GC-MS
    16. LSM
    17. SEM
    18. TEM
    19. TEM-EELS
  5. 良品率向上に活かすためのデータ解析、および考察
    1. 材料の知見
    2. 素材変質、経年劣化機構
    3. 分子挙動

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