分析技術による異物問題への対処法とノウハウ

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本セミナーでは、各種製品・原材料中に混入する異物、その発生原因と防止策から、発生した場合の分析、原因解明まで網羅的に解説いたします。

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プログラム

異物混入はどの製造現場においても起こりうることであり、異物混入による企業へのダメージは年々深刻化していますが、一方で、異物混入をゼロにすることは困難です。そのため、異物混入時に迅速な原因究明を行うことがなによりも重要です。  本講座では、迅速な原因究明を行うためのスキルを身に付けられるように、異物混入の現状から、異物検出・サンプリング方法、異物分析手法、ノウハウなどを、数多くの経験を持つ講師が体系的に解説します。これから分析に携わる方、一から学び直したい方にとって、おすすめの講座となっています。

第1部:異物問題の現状および検出・サンプリングのノウハウ

 様々な製品で混入異物によるトラブルが発生しています。衛生環境の向上は、異物問題を抑制しますが、花粉症や一部の食物アレルギーに代表されるように、私たちはそれまで気付かなかった異物にまで反応しはじめました。異物ゼロ化は企業にとって難しい課題ですが、具体的にどの様な異物が混入しやすいのでしょうか。混入した異物を検出し、分析するために必要なサンプリングについても解説します。

  1. 異物問題の現状
    1. 異物とは何か
    2. 事故拡大を防止するために~担当者の心得
    3. 人体からの発塵
    4. 繊維状 (糸状) 異物
    5. 昆虫
    6. カビ
  2. 異物の検出
    1. 異物の発見と原因解明までのフロー
    2. 異物の検出方法
    3. 異物分析の前に 〜 情報収集
  3. 異物のサンプリング
    1. 溶液中微小異物の捕集
    2. マイクロマニピュレータシステム
    3. ミクロトームによる試料の切片作製・面出し

第2部:異物分析

- FT-IR分析とその他分析法の組み合わせ -

 検出された異物を分析し、迅速な原因究明に繋げるためには、異物の大きさや性状にマッチする分析法の適用が肝心です。最も汎用されるFT-IR分析を中心に、各手法で分かる事・分からない事に対する理解を深め、分析担当者としてのスキルアップをはかります。

  1. 分析法の概要
  2. FT-IR分析の基礎
    1. 装置構成・測定フロー
    2. 適切な結果を得るために
    3. スペクトルの読み方
  3. その他代表的手法
    1. 走査電子顕微鏡 (SEM)
    2. 電子線マイクロアナライザ (EPMA)
    3. X線回折 (XRD)
    4. ラマン分光法
    5. 熱分解GC-MS
    6. 顕微赤外イメージング、その他
  4. まとめ (各分析法において分かる事&分からない事)

h4 第3部:迅速な原因解明のために、今からできる事

 混入異物分析は、結果からスピーディに原因究明へと辿り着くことが大事です。異物トラブルによる企業へのダメージが深刻化する中、これからは混入トラブルを最小限に抑えるため事前の分析的支援に重点を置く必要があります。では、具体的に何をすれば良いのか、について解説します。

  1. 迅速な原因解明のために
    • 同定から個別化へ向けた、分析手法の活用
      (形態的、元素的、熱物性的な違いからの識別)
  2. 今からできる対策
    1. 迅速に参照物質を提供・比較分析するには?
    2. 分析結果 (測定スペクトル) による個別化精度を上げるには?
    3. 製造環境から混入した異物の同定精度を上げるには?
    4. 交叉汚染対策
  3. まとめ

受講料

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このセミナーは、外為法:輸出管理規則に関わる制限に基づき、日本国内の「居住者」のみ受講が可能です。

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