半導体製造プロセスにおけるエッチング技術の最新動向とプロセス制御

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本セミナーでは、ドライ、ウェット、原子層の各エッチング技術の原理から各種材料への応用、三次元化への対応まで最新事例を交えながら解説いたします。

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プログラム

モノのインターネット (IoT) の普及により、データを処理するロジックデバイスやメモリーデバイスには、更なる性能向上と高集積化が求められている。このためデバイス構造の微細化と三次元化が益々進んでおり、エッチング技術にも、多様な膜種の原子レベル加工など、更なる進化が求められている。  本講座では、ドライエッチング、ウェットエッチング、および原子層エッチングについて、エッチングの原理から、各種材料への応用、技術動向、そして最先端の開発事例までを、メーカで各種半導体製造のエッチングプロセス開発に携わってきた講師が、実経験を交えて分かり易く解説する。

  1. 半導体デバイスのトレンド/構造/製造プロセス
    1. 半導体デバイスの技術トレンド
    2. 半導体デバイスの構造と製造プロセス
  2. 半導体製造プロセスにおけるエッチング
    1. エッチング工程の種類
    2. エッチング工程の課題
  3. ドライエッチングの基礎及びプロセス技術
    1. ドライエッチング装置、プロセスの歴史
    2. ドライエッチングの原理
    3. ドライエッチングの速度、選択性および損傷
    4. 各種材料のドライエッチング技術
  4. ウェットエッチングの基礎及びプロセス技術
    1. ウェットエッチングの原理
    2. ウェットエッチングの律速過程
    3. ウェットエッチングの選択比および面方位依存性
    4. 各種材料のウェットエッチング技術
  5. 原子層エッチングの基礎と最新技術
    1. 原子層エッチングの基礎と分類
    2. 有機金属錯体反応を用いた熱ALE
    3. プラズマと熱サイクルを用いた等方性ALE
    4. ハロゲン化とイオン照射を用いた異方性ALE
    5. フルオロカーボンアシスト法を用いた異方性ALE
  6. まとめ

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