本セミナーでは、赤外線分光法の基礎から解説し、FT-IRや顕微FT-IRを用いた分析のノウハウを基礎から丁寧に説明いたします。
また、前処理やきれいなスペクトルを得る測定方法、解析のコツを解説いたします。
日時
- 2012年4月24日 13時00分〜 2012年4月24日 16時30分
開催予定
プログラム
本セミナーでは、赤外線分光法の基礎から解説し、FT-IRや顕微FT-IRを用いた分析のノウハウを基礎から丁寧に説明いたします。 また、前処理やきれいなスペクトルを得る測定方法、解析のコツを解説いたします。
- 赤外分光法の基礎
- 赤外分光法の基礎
- スペクトルの解析法の基礎
- スペクトルの帰属の例
- 検索プログラムを利用した解析法
- FT-IRの原理
- FT-IRの装置の原理
~IRスペクトルが得られるまで~ - FT-IRの波数拡張性と近赤外スペクトル、遠赤外スペクトル
- 最適な測定パラメータの設定
- FT-IRの装置の原理
- 各種測定法の原理とスペクトルの取扱
~正しいスペクトルの取得、データ処理、解析事例~- 透過測定法
- KBr錠剤法
- 薄膜法
- 液膜法
- 溶液法
- ATRを中心とした各種反射測定法
- ATR法
- 拡散反射法
- 正反射法・透過反射法
- RAS法
- 透過測定法
- 顕微FT-IR
- 顕微FT-IRの原理
- クオリティの高いデータ取得のためのテクニック【前処理編】
- クオリティの高いデータ取得のためのテクニック【測定編】
- 顕微 FT-IR の付属ユニットを含めた測定
- 赤外イメージングと異物分析を中心とした測定例
- 質疑応答・名刺交換
会場
受講料
- 1名様: 40,000円(税別) / 44,000円(税込)
- 複数名: 33,000円(税別) / 36,300円(税込)
複数名同時受講の割引特典について
- 2名で参加の場合、1名につき 7,350円割引
- 3名で参加の場合、1名につき 10,500円割引 (同一法人に限ります)