日時
- 2012年5月22日 12時30分〜 2012年5月22日 16時30分
開催予定
プログラム
各種電子材料などの抵抗率(導電率)測定について、その原理や測定法の説明、実際の測定にあたっての注意点を解説する。
- 抵抗と抵抗率
- 低抵抗領域の測定
- テスターで測ると何故不安定なのか?
- テスターでの測定はダメなのか?
- 4端子法と2端子法
- 接触抵抗とは?
- 4探針法とは?
- 4探針法と4端子法の違い
- 表面抵抗率と体積抵抗率の使い分け
- 傷が付き易い試料の測り方
- 薄膜の抵抗率測定
- 高抵抗領域の測定
- 2重リング法とは?
- 表面抵抗率と体積抵抗率の測り方は違うのか?
- JIS K6911とは?
- ガード電極は必要か?
- 温度や湿度で抵抗値が変わるのか?
- 印加電圧や測定時間はどのように決めるのか?
- 高抵抗薄膜の測定
- 中間領域の試料は定電流印加法と定電圧印加法のどちらで測るか?
- 粉体の抵抗はどうやって測るか?
- リチウムイオン電池電極の厚み方向の測定について
- 質疑応答・名刺交換
会場
受講料
- 1名様: 45,000円(税別) / 49,500円(税込)
- 複数名: 38,000円(税別) / 41,800円(税込)
複数名同時受講の割引特典について
- 2名で参加の場合、1名につき 7,350円割引
- 3名で参加の場合、1名につき 10,500円割引 (同一法人に限ります)