EUVリソグラフィー・レジスト材料の基礎と応用

再開催を依頼する / 関連するセミナー・出版物を探す
オンライン 開催

本セミナーでは、極端紫外線リソグラフィー技術について、EUV光源技術、多層膜技術、光学系技術、マスク技術、レジスト技術等、基盤技術全般にわたって解説いたします。

日時

開催予定

プログラム

EUVリソグラフィ (EUVL / Extreme Ultra-Violet Lithography) は2020年よりスマートフォン用のロジックデバイスの量産技術として適用されました。しかしながら、今後のEUVLではまだまだ多くのレジスト、マスク等の基盤技術課題が残っています。これらの技術課題の解決にはこの技術の基礎を理解し、その上で課題克服および今後の展開と言った応用展開をする必要があります。また、世界における日本の半導体技術覇権の課題についても言及いたします。今回の講座を通じて少しでもお役に立てればと存じます。

  1. はじめに
  2. 半導体市場動向と半導体国際ロードマップ
  3. 半導体微細加工の変遷とその必要性・効果
  4. EUVリソグラフィ技術の歴史
    • 多層膜技術
    • EUV用露光技術
  5. EUVマスク技術
  6. EUVレジスト技術
  7. 兵庫県立大学におけるEUVリソグラフィ技術開発への取組
  8. Beyond EUV 次世代リソグラフィ技術
  9. 世界における日本の半導体技術覇権の課題およびこの克服に向けて
  10. まとめ

受講料

案内割引・複数名同時申込割引について

シーエムシーリサーチからの案内をご希望の方は、割引特典を受けられます。
また、2名様以上同時申込で全員案内登録をしていただいた場合、1名様あたり半額の 18,000円(税別) / 19,800円(税込)となります。

アカデミック割引

学校教育法にて規定された国、地方公共団体、および学校法人格を有する大学、大学院の教員、学生に限ります。

ライブ配信セミナーについて