tech-seminar.jp 技術セミナー 関連セミナーを探す

電子部品の不具合観察・解析と不良対策のポイント

オンライン 開催
再開催を依頼する 関連するセミナー・出版物を探す

本セミナーでは、SEM・EDS・EPMAを用いた電子部品の不具合解析について解説いたします。
また、各分析機器の原理・特徴・得手不得手などを学びつつ、情報量の最大化・高感度化にするためのノウハウを伝授いたします。
さらに、不具合箇所断面の鏡面研磨方法について、具体的な作業手順・ポイントにも言及いたします。

日時

開催予定

プログラム

不具合箇所の解析において、比較的身近な表面観察・分析装置であるSEMを中心として、EDS/EPMAの活用について、その原理・特徴、得手不得手を明らかにしながら、観察・分析で得られる情報量の最大化・高度化のためのノウハウをお伝えします。また、不具合箇所断面の鏡面研磨方法について、具体的な作業手順・ポイントについて解説いたします。さらには、他の有効な解析手法についても説明いたします。また、解析結果を特許出願～登録に繋げた事例を紹介いたします。

  1. SEMを使いこなし方
    1. 破断面だけの観察では情報が限られる
    2. 上 (一方向) からだけの観察では本来見えるものも逃してしまう
    3. 加速電圧で見え方が全然違う
    4. スケールの信頼性を確かめ方
  2. EDS (EDX) を活用する
    1. 分析方法の得手不得手 (EDSとWDS)
      (主元素が目立って、微量成分は見えにくい)
    2. 得られているX線情報は表面のピンポイントからではない
    3. 定量性・マッピングの精度を上げる方法
  3. EPMA (WDS/WDX) 元素分析で補完
    1. 微量成分の高感度検出と定量性向上 (EDSの欠点を補う)
    2. 線分析の活用 (界面・境界の情報を得る)
  4. 分析箇所の特定と試料の鏡面研磨
    1. 観察/分析箇所 (断面研磨箇所) の決定方法
    2. 分析・解析すべき試料の準備
    3. 樹脂に埋め込んで鏡面研磨
    4. 具体的研磨手順・方法
  5. SEM・EDSに基づく不良対策
  6. 様々な解析手段活用で総合的判断
    1. マイクロフォーカスX線透視像
    2. 超音波探傷/超音波イメージング
    3. その他
  7. 解析結果からの特許出願
    • 質疑応答

受講料

  • 1名様: 30,400円(税別) / 33,440円(税込)
  • 複数名: 20,000円(税別) / 22,000円(税込)

複数名受講割引

  • 2名様以上でお申込みの場合、1名あたり 20,000円(税別) / 22,000円(税込) で受講いただけます。
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 30,400円(税別) / 33,440円(税込)
    • 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 40,000円(税別) / 44,000円(税込)
    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 60,000円(税別) / 66,000円(税込)
  • 同一法人内 (グループ会社でも可) による複数名同時申込みのみ適用いたします。
  • 受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。
  • 請求書および領収書は1名様ごとに発行可能です。
    申込みフォームの通信欄に「請求書1名ごと発行」とご記入ください。
  • 他の割引は併用できません。
  • サイエンス&テクノロジー社の「2名同時申込みで1名分無料」価格を適用しています。

アカデミー割引

教員、学生および医療従事者はアカデミー割引価格にて受講いただけます。

  • 1名様あたり 10,000円(税別) / 11,000円(税込)
  • 企業に属している方(出向または派遣の方も含む)は、対象外です。
  • お申込み者が大学所属名でも企業名義でお支払いの場合、対象外です。
再開催を依頼する 関連するセミナー・出版物を探す