環境・エネルギー技術が新しい産業分野として大きな期待を集めている。
ここで使用されるパワーエレクトロニクスの高効率化が強く求められているが、現状のSiパワーデバイスでは特性の向上に材料的な限界が見え始めており、Siの材料限界を打破する新たな半導体材料としてシリコンカーバイド (SiC) に大きな注目が集まっている。
本講演では、SiC半導体技術の礎となるSiC単結晶エピタキシャル基板について、その開発の背景、パワーデバイスへの応用、製造・高品質化技術について述べ、現状と将来動向、今後取り組むべき課題等について触れる。
- SiC単結晶エピタキシャル基板開発の背景
- 環境・エネルギー技術としての位置付け
- SiC半導体開発の意義
- SiC単結晶エピタキシャル基板開発の歴史と経緯
- SiC半導体開発の黎明期
- SiC単結晶成長とエピタキシャル成長のブレイクスルー
- SiC単結晶エピタキシャル基板開発の現状と動向
- SiC単結晶エピタキシャル基板の市場
- SiC単結晶エピタキシャル基板関連の学会・業界動向
- SiC単結晶エピタキシャル基板関連の最近のニュース
- SiC単結晶の物性的特徴と各種デバイス応用
- SiC単結晶とは
- SiC単結晶の物性と特長
- SiC単結晶の各種デバイス応用
- SiCパワーデバイスの最近の進展
- SiCパワーデバイスの特長
- SiCパワーデバイス (SBD、MOSFET) の現状
- SiCパワーデバイスのシステム応用
- SiCエピタキシャル基板製造プロセスの概要
- SiC単結晶のバルク結晶成長
- SiC単結晶成長の熱力学
- 昇華再結晶法
- 溶液成長法
- 高温CVD法
- その他成長法
- SiC単結晶の基板加工技術
- SiC単結晶の基板加工プロセス
- SiC単結晶の切断技術
- SiC単結晶基板の研磨技術
- SiC単結晶基板上へのSiCエピタキシャル薄膜成長技術
- SiCエピタキシャル薄膜成長技術の概要
- SiCエピタキシャル薄膜成長装置の動向
- SiC単結晶エピタキシャル基板製造の技術課題
- SiC単結晶のポリタイプ制御
- SiC単結晶のポリタイプ現象
- 各種ポリタイプの特性
- SiC単結晶成長におけるポリタイプ制御
- SiC単結晶エピタキシャル基板中の拡張欠陥
- 各種拡張欠陥の分類
- 拡張欠陥の評価法
- 基板加工の技術課題
- 基板加工の技術課題
- 基板加工技術の現状
- エピタキシャル薄膜成長の技術課題
- エピタキシャル薄膜成長の技術課題
- エピタキシャル薄膜成長技術の現状
- SiC単結晶基板の電気特性制御
- 低抵抗率SiC単結晶基板の必要性
- 低抵抗率SiC単結晶基板の技術課題と現状
- SiC単結晶エピタキシャル基板の高品質化
- マイクロパイプ欠陥の低減
- 貫通転位の低減
- 基底面転位の低減
- まとめ