FT-IRと顕微ラマンの基礎と異物分析を中心とした測定・解析事例
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会場 開催
本セミナーでは、FT-IRや顕微IRを用いた異物分析のノウハウを基礎から丁寧に解説いたします。
また、きれいなスペクトルを得るための前処理や測定のポイントを詳解いたします。
日時
2012年2月21日 12時30分
〜
2012年2月21日 16時30分
開催予定
プログラム
赤外分光法の基礎とスペクトルの解析法
赤外分光法の基礎
スペクトルの解析法の基礎
検索プログラムを利用した解析法
FT-IRの原理
FT-IRの装置の原理
波数拡張に関する手法
各種測定法の原理とその応用
透過測定の原理と測定テクニック
ATRを中心とした反射測定の原理と測定テクニック
最適な付属品の選択方法
データ解析方法
各種データ処理方法
多変量解析を用いた測定事例
顕微FT-IR
顕微FT-IRの原理
顕微FT-IRの付属品を含めた測定
クオリティの高いデータ取得のための前処理、測定、解析
赤外イメージングと異物分析を中心とした測定例
顕微ラマン分光法
ラマンの基礎
ラマンとIRの違い
サンプル目的別、最適励起波長の選択法
ラマンイメージングと異物分析を中心とした分析事例
質疑応答・名刺交換・個別相談
会場
江東区役所 商工情報センター (カメリアプラザ)
136-0071
東京都
江東区
亀戸2-19-1
江東区役所 商工情報センター (カメリアプラザ)の地図
受講料
1名様: 47,600円(税別) / 52,360円(税込)
割引特典について
R&D支援センターからの案内登録をご希望の方は、割引特典を受けられます。
1名でお申込みいただいた場合、1名につき47,250円 (税込)
2名同時にお申し込みいただいた場合、2人目は無料 (2名で49,980円)
案内登録をされない方は、1名につき49,980円 (税込)