tech-seminar.jp 技術セミナー 関連セミナーを探す

FT-IRと顕微ラマンの基礎と異物分析を中心とした測定・解析事例

会場 開催
再開催を依頼する 関連するセミナー・出版物を探す

本セミナーでは、FT-IRや顕微IRを用いた異物分析のノウハウを基礎から丁寧に解説いたします。
また、きれいなスペクトルを得るための前処理や測定のポイントを詳解いたします。

日時

開催予定

プログラム

  1. 赤外分光法の基礎とスペクトルの解析法
    1. 赤外分光法の基礎
    2. スペクトルの解析法の基礎
    3. 検索プログラムを利用した解析法
  2. FT-IRの原理
    1. FT-IRの装置の原理
    2. 波数拡張に関する手法
  3. 各種測定法の原理とその応用
    1. 透過測定の原理と測定テクニック
    2. ATRを中心とした反射測定の原理と測定テクニック
    3. 最適な付属品の選択方法
  4. データ解析方法
    1. 各種データ処理方法
    2. 多変量解析を用いた測定事例
  5. 顕微FT-IR
    1. 顕微FT-IRの原理
    2. 顕微FT-IRの付属品を含めた測定
    3. クオリティの高いデータ取得のための前処理、測定、解析
    4. 赤外イメージングと異物分析を中心とした測定例
  6. 顕微ラマン分光法
    1. ラマンの基礎
    2. ラマンとIRの違い
    3. サンプル目的別、最適励起波長の選択法
    4. ラマンイメージングと異物分析を中心とした分析事例
    • 質疑応答・名刺交換・個別相談

会場

江東区役所 商工情報センター (カメリアプラザ)
136-0071 東京都 江東区 亀戸2-19-1
江東区役所 商工情報センター (カメリアプラザ)の地図

受講料

  • 1名様: 47,600円(税別) / 52,360円(税込)

割引特典について

  • R&D支援センターからの案内登録をご希望の方は、割引特典を受けられます。
    • 1名でお申込みいただいた場合、1名につき47,250円 (税込)
    • 2名同時にお申し込みいただいた場合、2人目は無料 (2名で49,980円)
    • 案内登録をされない方は、1名につき49,980円 (税込)
再開催を依頼する 関連するセミナー・出版物を探す