実験で理解する最先端電子デバイス/システムの静電気障害とその対策

会場 開催

本セミナーでは、静電気の基礎から解説し、誘電ESDのメカニズム、原因、測定・評価、防止対策、除去法など、静電気対策について実験を交えて詳解いたします。

日時

開催予定

プログラム

手を触れていないのに機器が暴走、装置の近くを人が通過した時にシステムダウンが発生、デバイスの近くから離れた時にこれが破壊、IECの放電試験で20kVをクリアしている製品が市場で障害を起こす、等 従来の静電気では説明が難しい障害が多発化の傾向にある。  本セミナーでは、新しい体系である “誘導ESD事象” を取り上げ、これによる障害発生メカニズムと、対策について実験機材/測定器を豊富に使い、わかりやすく解説する。

講義

  • 静電気の実態とその測定
  • 動的な静電誘導の実際
  • 誘導ESDとは何か
  • 誘導ESDによる障害事例
  • 誘導ESDによる部品破壊メカニズム
  • 誘導ESDによる回路誤動作メカニズム
  • 誘導ESD対策の実際

実験

  • 静電荷の発生
  • 静電気の極性
  • 静電気測定のよくある間違い
  • 静電気放電 (ESD) の簡単な見つけ方
  • 誘導ESDの発生と検出
  • 誘導ESDによる部品破壊
  • 誘導ESDによる回路誤動作
  • ESD対策資材の比較

主な実験機材/測定器

  • オシロスコープ
  • EMIパワーメータ
  • 電荷量計
  • 静電電圧計
  • 表面電位計
  • 誘導ESD発生装置
  • 高電圧電源
  • 高感度ESD検出器
  • 過渡電磁界極性識別装置
  • 最新デバイス (破壊対象)
  • 高速論理回路 (誤動作対象)
  • 各種情報ケーブル 他

会場

株式会社オーム社 オームセミナー室
101-8460 東京都 千代田区 神田錦町3-1
株式会社オーム社 オームセミナー室の地図

受講料

  • 1名様: 43,000円(税別) / 47,300円(税込)
  • 複数名: 55,000円(税別) / 60,500円(税込)

割引特典について

  • 複数名 同時受講:
    1口 57,750円(税込) (3名まで受講可能)
  • 早期申込割引:
    2011年12月27日 17:00までのお申込は、
    1名受講・1口受講とともに受講料から10%割引となります。
再開催を依頼する 関連するセミナー・出版物を探す