FT-IRの基礎と異物分析への実践応用テクニックとコツ・ノウハウ

本セミナーでは、赤外分光法・スペクトル解析について基礎から解説し、実際の分析操作やスペクトルの解釈、実際の分析において対象とすることの多い異物や混合物、様々な試料や目的への対応の方法、事例などについて、実務使用における測定技術や応用技術、ノウハウを解説いたします。

日時

2021年2月5日 10時30分〜 2021年2月5日 16時30分

開催予定

プログラム

赤外分光法は、その特徴からも主に有機化合物の化学構造や高次構造の解析手段として研究、開発され、今日では研究・開発だけでなく工場でのインライン評価などにも幅広く一般に使用されている。近年になって、ATR法を初めとした様々な測定法の開発や装置の改良等によって、従来困難であったような試料も容易に測定が可能となり、今日においてはなくてはならない基本的な測定手法としてその地位を確立している。　ただ、測定が容易になった反面、とりあえず使うという状況が生まれて実際のサンプルや問題に直面した場合、どのように測定・解析を行っていけば良いかが分からないまま使用されていることも多い。しかし残念ながら、文献・教科書等では装置や測定法の原理は詳細に解説してあるものが多いが、そのアプリケーションとしての現場での活用に軸足を置いた解説を十分に行っているものは少ない。　本講座は、赤外分光法の原理だけではなく、よりアプリケーション寄りの内容、実務での赤外分光法活用を中心とした。実際の分析操作やスペクトルの解釈、実際の分析において対象とすることの多い異物や混合物、様々な試料や目的への対応の方法、事例などについて、実務使用における測定技術や応用技術、コツ・ノウハウを解説する。

赤外分光法の基本原理と特徴
1. 赤外分光が見ているもの
2. 分光分析における吸収の定義
3. 赤外分光の波長領域
4. 振動モード
5. 気体と液体・固体 (H2O)
6. 赤外分光法の長所・短所
7. 赤外分光法による評価
8. 主な検出器
9. 検出器の感度特性
代表的な測定法
1. 透過法
  1. 透過法
  2. 透過法 : 液体用セル、塗布
  3. 主な窓材
  4. フリンジ (干渉縞)
2. 全反射法 (ATR)
  1. ATR法のバリエーション
  2. ATR結晶 (IRE) の特性
  3. FTIR-ATRにおける測定深さ
  4. ATR法における注意点
  5. ATR補正
  6. 異常分散によるスペクトルへの影響
  7. 様々なATRアタッチメント
  8. 毒劇物としてのATR結晶 (IRE)
3. 反射法
  1. 反射法
  2. 高感度反射の原理
4. 拡散反射法
5. 主な測定法のまとめ
6. 顕微赤外
赤外スペクトル
1. 赤外スペクトルの概要
2. 主な振動モード
3. 主な吸収帯
4. 主な有機系官能基の吸収帯
5. イオン性官能基の吸収帯
6. 赤外分光の構造敏感性
7. 指紋領域の利用
8. カルボニル基の判別
9. スペクトルサーチ
10. スペクトルデータベース
11. 代表的検索アルゴリズム
12. 検索アルゴリズムの限界
13. ヒットスコアの罠
14. 検索結果の間違い例
15. スペクトルサーチのコツ
16. 差スペクトル
17. 混合解析
18. オープンライブラリ
19. 系統分析
20. スペクトルパターン
21. 帰属の考え方
22. ラマン分光法との対比
定量分析
1. 検量線法
2. 検量線法が適用困難なケース
3. ピーク強度比法
4. 誤差要因
大気成分補正
1. 大気成分
  - CO2
  - H2O
2. 窒素パージ法
3. 差分法
測定条件
スペクトル処理
1. ベースライン補正
2. スムージング・補間
3. ベースライン (ピーク強度)
4. ピーク高さと面積
5. 自動処理の注意点
混合物の解析
1. 混合物のスペクトル
2. ピーク分離
3. 差スペクトル
4. ATR法における差スペクトル
5. 他手法との組み合わせ
異物・微小部
1. 顕微透過法
2. マイクロサンプリングの検討
3. 顕微ATR
汚染・付着物
1. 差スペクトル (透過・ATR)
2. ATR転写法
3. その他の方法
黒色試料
高次構造
1. 結晶解析
2. 融解
FT-IRにおける注意点
1. ATRにおける異常分散
2. ATRにおける試料変形の影響
3. ATRにおける試料の置き方の影響
4. ATRにおける押し圧の影響
5. KBrと試料との反応
6. KBr錠剤法の粉砕粒度の影響
7. 表面研磨、偏光と試料傾斜による干渉縞抑制
8. プレスホルダーによる測定 (干渉縞)
事例
1. フィルム上汚染
2. ポリイミドの表面処理層の深さ方向分析
3. 精密斜め切削法
4. 異物分析
  1. サンプリングの基本とコツ
  2. 顕微ATR転写法
  3. 片刃の加工
  4. 連続作業
  5. 作業時の試料固定
  6. 試料の切り出し
  7. サンプリング後の測定
  8. 干渉縞抑制
  9. イメージングの活用
  10. こういうのもあり
実例
1. シミ、変色の分析
2. 埋もれた異物のサンプリング
3. 顕微赤外を用いたPPフィルム中異物の分析
4. 付着物の分析
  - 顕微IR
  - μ-MS
5. 塗膜ハジキの分析
6. PET/エポキシのIRスペクトル
7. LCDのTFT基板上の欠陥分析
8. マイクロ抽出法による分離分析
9. 薬液中の浮遊物の分析
その他のコツ・ポイント
まとめ
質疑

受講料

1名様: 50,000円(税別) / 55,000円(税込)
複数名: 25,000円(税別) / 27,500円(税込)

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