本セミナーでは、ガラスの表面特性を理解する上で重要な分析・解析技術について、基礎的手法からフラーレンを用いた最新の分析技術まで詳解いたします。
さらに表面制御のポイントについても分かりやすく解説いたします。
日時
- 2012年2月29日 10時30分〜 2012年2月29日 16時30分
開催予定
プログラム
ガラスの表面特性を理解する上で重要な分析・解析技術について、基礎的な手法からフラーレンを用いた最新の分析技術まで詳細内容を紹介する。 さらに、それら各種分析法を用いることで、ガラス表面の特性制御によって、様々な機能を発現するメカニズムの解明が可能になることを多くの事例を交えて紹介する。
- はじめに
- ガラス表面の分析・解析技術
- 概論
- 二次イオン質量分析法 (SIMS)
- X線光電子分光法 (XPS、ESCA)
- 昇温脱離ガス分析法 (TD-GS/MS、TDS)
- フラーレンを用いた新しいガラス表面分析技術
- ガラス表面の特性制御
- ガラス概論
- 表面変質による特性への影響と対策
- 表面吸着現象のメカニズムと対策
- 光学ガラスの表面制御
- 機能性コーティング薄膜の特性制御
- 光学フィルターのキャラクタリゼーション
- 透明導電膜のキャラクタリゼーション
- 防汚 (光触媒) 膜のキャラクタリゼーション
- その他
- 質疑応答・名刺交換・個別相談
会場
受講料
- 1名様: 47,600円(税別) / 52,360円(税込)
割引特典について
- R&D支援センターからの案内登録をご希望の方は、割引特典を受けられます。
- 1名でお申込みいただいた場合、1名につき47,250円 (税込)
- 2名同時にお申し込みいただいた場合、2人目は無料 (2名で49,980円)
- 案内登録をされない方は、1名につき49,980円 (税込)