MEMSデバイスの国際標準化動向とそのビジネス活用

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プログラム

  1. MEMS国際標準化の動向
    ～重要性、方法論、組織概要、開発戦略～
    1. はじめに
    2. 国際標準化の重要性
      1. 国際標準化とは
      2. 国際標準化の重要性の高まり
      3. 国際標準化を巡る最近の動向
    3. 国際標準化の方法論
      1. 国際標準化の方法論
      2. 国際標準化機関
      3. 規格の階層
    4. IEC概要
      1. IECの概要
      2. IECの設立と日本の参加
      3. 国際審議組織
      4. 国内審議組織
      5. TC47概要
      6. SC47F概要
      7. SC47F/WG1概要
    5. 国際標準化
      ～開発、提案、審議、発行までの流れ
      1. 国内における開発から提案までの流れ
      2. IECにおける提案、審議、発行の流れ
    6. MEMS国際標準化開発戦略
      1. MEMS国際標準化ロードマップ
        1. 背景とロードマップ策定プロセス
        2. デバイス分野のロードマップ
        3. 基盤共通技術ロードマップ
      2. これまでの国際標準化の進捗状況
  2. MEMS発行規格の紹介からそのビジネス活用まで
    1. MEMS発行規格の紹介
      1. 発行済みのMEMS規格
      2. MEMS用語集
        1. MEMS用語標準化の重要性
        2. MEMS用語の分類
        3. 用語と定義の実例
      3. 薄膜材料引張試験法
        1. 薄膜材料引張試験法の重要性
        2. 試験片形状・寸法
        3. 試験装置と試験片の例
        4. 試験結果の例
      4. 薄膜材料疲労試験法
        1. 薄膜材料疲労試験法の重要性
        2. 試験片と試験機の例
        3. 繰り返し負荷と変位測定例
        4. サイクル数とピークストレスの測定例
    2. 開発・審議中の規格案の紹介
      1. 開発・審議中の規格案
      2. ジャイロスコープ
      3. 電子コンパス
      4. MEMS形状計測法
    3. MEMS国際規格のビジネス活用
      1. 材料・デバイス開発段階での規格活用
      2. 製品設計段階での規格活用
      3. 製品販売段階での規格活用
    4. おわりに ～ 課題と将来展望

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101-8460 東京都 千代田区 神田錦町3-1
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