日時
- 2020年6月25日 10時30分〜 2020年6月25日 16時30分
中止
プログラム
- 赤外線・テラヘルツとは
- 電磁波の世界
- 赤外線・テラヘルツの分類
- 赤外線とテラヘルツ波の性質と特徴
- 光・電波および赤外線・テラヘルツの研究の歴史
- 光の研究のはじまり
- 光と電波、電磁波=電磁気の波動
- 熱放射と光の量子論
- 赤外線の発見と赤外線からテラヘルツへ
- マクスウェル方程式と電磁波の放射・検知
- マクスウェル方程式を読む
- 電磁界の波動の性質
- 電磁波の放射と検知
- 電界の強度と光子の密度の関係
- 熱放射と光源
- 物質による光子の吸収と放出
- 熱放射に関するキルヒホッフの法則-吸収率と放射率の関係
- プランクの法則と黒体放射,一般の物質の熱放射と放射率
- 熱放射とアインシュタインのA係数・B係数
- 熱放射による赤外・テラヘルツ光源
- 赤外線LED
- 赤外・テラヘルツ半導体量子カスケードレーザー
- フォトニックテラヘルツ光源,超短テラヘルツパルスの発生
- エレクトロニックテラヘルツ光源,共鳴トンネルダイオード
- 伝搬媒質との作用と赤外線・テラヘルツ材料
- 電磁波と媒質との相互作用、
- 反射、透過、吸収、散乱と回折および消散
- 赤外線の減衰と大気の伝搬特性
- 赤外線透過材料
- テラヘルツ透過材料
- テラヘルツ帯の非線形光学材料
- 検出器と感度
- 赤外線・テラヘルツの検出
- 赤外線検出器の分類
- 量子型検出器と感度
- 熱型検出器と感度
- 電界検出器
- フェムト秒レーザーをプローブとする超短パルステラヘルツ波の検出
- 検出器の雑音
- 雑音と分散、標準偏差
- スペクトル密度関数による雑音密度の導出
- ショット雑音
- 熱雑音、誘電損雑音および生成・再結合雑音
- 温度ゆらぎによる雑音、光子雑音およびf分の1雑音
- 量子型検出器の雑音
- 熱型検出器 (ボロメータ) の雑音
- OPアンプ増幅器出力における雑音
- 検出器の性能指標と評価
- 性能指標
- 検出器への入射光量の見積り方
- NEP (雑音等価電力)
- 検出能Dおよび比検出能D*
- 雑音等価放射照度 (NEI)
- 雑音等価温度差 (NETD)
- テラヘルツ検出器の性能評価法
- 分光法
- プリズム分光法
- グレーティング分光法
- フーリエ分光法 (FTIR)
- テラヘルツ時間領域分光法 (THz-TDS)
- 赤外線・テラヘルツ計測の方法
- 赤外線計測の方法
- 放射計測 温度計測 (放射温度,色温度)
- 赤外カメラによる放射イメージング
- 分光+イメージング
- ハイパースペクトルイメージング (HSI)
- テラヘルツ計測の方法
- アクティブ計測 vs. パッシブ計測
- THz時間領域分光による透過測定と反射測定
- THzパルスイメージング,3次元CTイメージング
- TH-QCL+アレイ検出器によるアクティブイメージング
- パッシブイメージングーヘテロダイン検出と極低温高検出能検出器
- テラヘルツ近接場顕微イメージング
- 赤外線計測の応用
- 建物・インフラの劣化診断
- 事故防止車載暗視カメラ
- スマートフォン用赤外線カメラ
- 3Dイメージングセンサー
- 衛星からの大規模災害監視
- 地球温暖化分子ガスの全地球モニター
- 運転者のアルコール検知
- 航空機搭載ハイパースペクトルイメージングによる広地域捜索
- HSIの医療検査応用 (血管と酸素飽和度、癌)
- HSIによる毛髪の保湿度のモニター
- HSI添加剤中の混合物のモニター
- HSIによる食品の品質検査・選別
- HSIによる人のストレスの検知
- 赤外線天文観測-銀河系、大マゼラン星雲
- 防衛監視-赤外2波長カメラによる航空機検知
- テラヘルツ計測の応用
- 計測・分光装置の性能標準
- 有機物質の成分分析-色素分子の異性体の識別
- 紙製品の性質の計測
- 0.2THzイメージングによる鞄の検査
- 0.25THzパッシブボディスキャナーと反射・放射イメージング
- 広視野大面積アクティブイメージング
- ベルトコンベア用テラヘルツスキャナー
- プラスチックの欠陥,厚みの検査
- 製造工程の薬品材料の検査
- 多層塗装膜の検査
- 金属面のポリマーコートの検査
- 美術絵画の絵の具の塗り具合の計測
会場
受講料
- 1名様: 46,000円(税別) / 50,600円(税込)
- 複数名: 57,000円(税別) / 62,700円(税込)