異物分析においてFT-IRは多用される分析機器である。本講演では、FT-IRの基礎的な知識を得ることによって、より効率よく異物分析ができるようになることを目的としている。具体的には、数μm~の異物を対象に、異物の収集方法やその際に確認できる情報、FT-IRの測定方法、解析方法、問題解決にむけてのアプローチなど、一連の分析手順について事例を交えながら解説する。さらに、FT-IRでできる分析とできない分析の事例をあげることで、FT-IRのデメリットについても学べるよう工夫している。
- はじめに
- 大切な分析の視点とは
- 分析の目的は何か
- 分析の中のFT-IR
- 異物の概要
- 異物とは何か
- 異物の種類
- 異物分析の分析方法
- 異物分析で大切なこと
- 異物分析の手順
- 観察でわかること
- 異物のサンプリング方法
- 異物の情報収集
- 問題解決に向けてのアプローチ
- FT-IRを使用した異物分析
- 異物分析の中のFT-IR
- 装置の概要
- FT-IRでどんな情報が得られるのか
- FT-IR測定での約束事
- FT-IRの測定方法と測定のコツ
- 本体測定-透過法と使用例
- 本体測定-反射法と使用例
- 本体測定-ATR法と使用例
- 顕微IRを用いた測定
- 顕微IR-イメージング法:2次元可視化のメリット/デメリット
- FT-IR測定のためのサンプリングと前処理
- ちょっと便利なグッズ
- 前処理
- スペクトルの解析
- データベースの重要性
- データベースの作成
- よく使われるスペクトルの処理とそれを使用した解析
- 検量線作成およびサンプルの定量
- 構造解析
- ピークの細かな違い
- ピークシフト
- ピーク強度比
- ピーク幅
- ピーク歪み
- 問題解決のための解析
- FT-IR以外の分析装置
- SEM-EDS
- 蛍光X線
- GC、GC-MSおよびLC
- 異物分析の実施例
- FT-IRが活躍した例
- FT-IRではできなかった例
- よくある質問
- サンプリングに関すること
- スペクトルに関すること
- まとめ