本セミナーでは、求められる品質を保証するためのより効果的な信頼性試験の試験計画の立て方と、試験結果からの寿命予測についてわかりやすく解説いたします。
(2020年2月4日 10:00〜12:30)
パソコンやテレビなどの電子回路製品の過去のトラブルには、使用1年から数年程度で故障した短寿命トラブルがあります。これらのトラブルをなくすため、本セミナーでは、トラブルの未然防止対策のための加速寿命試験の考え方ややり方を詳細に解説します。特に、耐用寿命の推定の仕方、具体的には市場でどのくらい使用したら、どのくらいの確率で製品に故障が起こるのかを温度加速モデルを例にとり詳細に解説します。
(2020年2月4日 13:10〜15:40)
主に電子部品を題材として、その寿命分布が出来上がる背景にある検査との関係を示す。その考え方に基づき、検査結果を累積ハザード解析して、市場故障率を推定する手順を示す。 生産規模に応じた目標品質を満足するに許容される市場故障率の限界を導き出し、その許容限界となる市場故障率を実現するために必要な、工程内の検査不良率限界を導き出す。製造工程の検査不良率から市場の不良率までの全不良率から累積故障確率の許容限界を導き出して、それを実現する工程性能指数、さらには工程能力指数の許容下限値を導き出して、工程の統計的品質管理を進める。
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学校教育法にて規定された国、地方公共団体、および学校法人格を有する大学、大学院の教員、学生に限ります。