本セミナーでは、幅広い分野のX線分析・評価やその実験データ解析について、豊富な具体例に基づいて分かりやすく解説いたします。
日時
- 2019年11月27日 10時30分〜 2019年11月27日 16時30分
開催予定
プログラム
X線回折、X線分光、X線小角散乱などX線を用いた計測は材料の分析・評価に広く用いられております。従来の方法ではこれらの計測を行い得られたデータを解析するためには、熟練することが必要でした。 本セミナーでは、機械学習を用いることにより、X線計測を高速化し自動化する技術や従来は熟練者の知識が必要であったX線データ解析を自動化する技術について説明いたします。
- X線を用いた材料の分析・評価技術
- 材料の分析・評価技術の基礎
- X線を用いた材料の分析・評価技術と問題点
- 機械学習を用いたX線計測の高効率化、高速化
- X線計測システムの基礎
- 計測システムの効率化、高速化に必要な機械学習技術の基礎
- 具体例:機械学習を用いたX線吸収スペクトル計測データ解析の自動化
- X線計測における最適実験計画
- 実験計画の基礎
- ベイズ最適化
- 適応型実験計画法
- 具体例:X線吸収スペクトル計測における適応型実験計画
- X線計測データ解析の自動化技術
- 計測データ解析に用いる機械学習技術の基礎
- 次元削減を用いた計測データの可視化と自動データ解析
- 機械学習を用いた計測データ解析の自動化
- 具体例1:機械学習を用いたX線回折データ解析の自動化
- 具体例2:機械学習を用いたX線小角散乱データ解析の自動化
- 具体例3:機械学習を用いたX線吸収スペクトルデータ解析の自動化
- X線計測とマテリアルズインフォマティクス
- マテリアルズインフォマティクスの基礎
- ハイスループット計測とマテリアルズインフォマティクス
会場
受講料
- 1名様: 50,000円(税別) / 55,000円(税込)
- 複数名: 25,000円(税別) / 27,500円(税込)
案内割引・複数名同時申込割引について
R&D支援センターからの案内登録をご希望の方は、割引特典を受けられます。
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複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 25,000円(税別) / 27,500円(税込) で受講いただけます。
- R&D支援センターからの案内を希望する方
- 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 45,000円(税別) / 49,500円(税込)
- 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 50,000円(税別) / 55,000円(税込)
- 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 75,000円(税別) / 82,500円(税込)
- R&D支援センターからの案内を希望しない方
- 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 50,000円(税別) / 55,000円(税込)
- 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 100,000円(税別) / 110,000円(税込)
- 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 150,000円(税別) / 165,000円(税込)