FT-IRによる不良解析・異物分析実例

FT-IRを用いた不良解析・異物分析においてサンプリングなどの前処理は非常に重要であり、これを失敗すると、その後の解析を困難にしてしまう場合があります。 　また、試料の種類や状態により、正確な情報を得られなかったり、間違った分析結果を導いてしまう場合もあります。 　今回は、前処理によって得られるスペクトルがどのように変わるのかなど、実例を用いて説明するとともに、得られたデータに対するスペクトル検索のコツおよびスペクトルの読み方についてご紹介します。 　加えて複数機種を用いた多角的な不良解析事例も数例ご紹介します。

1. 不良解析とは?
   1. クレーム品の種類
      • 異物
      • 混合比
      • 劣化
   2. 異物分析フローチャート
2. 前処理方法
   • 試料の状態と対応
   • サンプリングツール
3. 異物分析の実例
   1. マクロ分析 (1回反射ATR法) の実例と注意点
      • 表面付着物
      • 密着
      • ゴム試料の注意点
   2. ミクロ分析 (顕微分光法) の実例と注意点
      • アパーチャ
      • 焦点
      • ダイヤモンドセル
      • 試料厚さ
4. スペクトルの解析について
   1. 混合物のスペクトル
   2. 差スペクトルの計算
   3. スペクトル検索の条件設定
5. 複数機種を用いた多角的な不良解析事例
6. 異物実例ATRスペクトル集

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