本セミナーでは、不良解析の基礎から解説し、解析の前処理、異物分析の実例、スペクトル解析、不良解析事例について詳解いたします。
FT-IRを用いた不良解析・異物分析においてサンプリングなどの前処理は非常に重要であり、これを失敗すると、その後の解析を困難にしてしまう場合があります。 また、試料の種類や状態により、正確な情報を得られなかったり、間違った分析結果を導いてしまう場合もあります。 今回は、前処理によって得られるスペクトルがどのように変わるのかなど、実例を用いて説明するとともに、得られたデータに対するスペクトル検索のコツおよびスペクトルの読み方についてご紹介します。 加えて複数機種を用いた多角的な不良解析事例も数例ご紹介します。