近年、電子応用商品には小型化・省エネ化を目指して搭載部品レベルでも微細加工した部品や超薄型部品が搭載されています。一方、微細加工や薄膜素材の積層などでパターン間や素材間の電界強度が大きくなるため、市場でのトラブル増加が懸念されます。そこで、これらのトラブルをなくすために設計段階からFMEA・FMEAや製品の信頼性試験などを用いて不良ゼロを目指した活動がなされています。ところが、経済産業省やNITEなどに掲載のトラブル情報をみてみると、電子機器の市場トラブルはゼロになっているわけではありません。 そこで、本セミナーではこれらの市場トラブルを少しでも少なくするために、信頼性の基礎知識から信頼性加速試験の設定の仕方、特にサンプルサイズと加速試験条件・試験時間の関係を詳細に紹介します。具体的には、まず市場トラブルがなぜ発生するのかその対応の仕方を紹介し、市場の故障は時間経過によってどのように変化していくかを紹介します。次に故障時間を早く知るために、温度や湿度、温度差や振動など様々な市場ストレスに対応する加速試験モデルを紹介していきます。その結果、自社製品が市場使用環境で使われた期間に対する累積の故障確率を予測でき、また、その故障時間を製品の寿命目標値まで低減するための施策を提案できるようになります。