FT-IR分析とそのスペクトル解釈

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赤外分光 (FT-IR) 分析でお困りですか? FT-IR法は、電子顕微鏡では観察することが難しい微細な分子構造を、赤外光を照らしながら“影”を見て推定する手段です。  本講座では、“影”であるFT-IRスペクトルを適切に測定して読み解く力ならびにその応用として、様々な材料に対してどこまで情報が得られるのかを解説します。“様々な形態の試料に対する測定条件の最適化”“解析と解釈の違いとは”“FT-IR分析の限界について”を中心に解説することで、実務に直結した講習を目指します。樹脂関係を中心とした材料メーカーの他、製薬、食品、化粧品等の開発・品質管理等に携わる方々に有効です。

  1. FT-IR分析とは?
    1. FT-IR分析の原理および特徴
    2. 装置の構成
    3. 赤外顕微鏡 (顕微FT-IR)
    4. 試料形態による測定法の選択
    5. 試料サンプリング
    6. 測定条件の設定
    7. 測定結果表示までのフロー
    8. スペクトルの連続取得
      • ライン分析
      • イメージングIR
  2. スペクトルの解釈
    1. 正しいスペクトルが得られているか?
    2. スペクトルに現れる特徴とは?
    3. 官能基領域と指紋領域
    4. 解析から同定へのフロー
    5. 正しい解析と正しい解釈
  3. 様々な試料への適用例 (予定)
    1. 溶液中の微小異物の分析
    2. 劣化混入樹脂の分析
    3. 多層フィルムの分析
    4. 毛髪の分析
    5. 繊維・樹脂の分析
  4. 新規な手法と応用
    1. 放射光IR
    2. 近接場光の活用
    3. 熱振動に基づく測定
  5. まとめ
    1. 問題演習
    2. 個別相談

会場

株式会社 技術情報協会
141-0031 東京都 品川区 西五反田2-29-5
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