赤外分光 (FT-IR) 分析でお困りですか? FT-IR法は、電子顕微鏡では観察することが難しい微細な分子構造を、赤外光を照らしながら“影”を見て推定する手段です。
本講座では、“影”であるFT-IRスペクトルを適切に測定して読み解く力ならびにその応用として、様々な材料に対してどこまで情報が得られるのかを解説します。“様々な形態の試料に対する測定条件の最適化”“解析と解釈の違いとは”“FT-IR分析の限界について”を中心に解説することで、実務に直結した講習を目指します。樹脂関係を中心とした材料メーカーの他、製薬、食品、化粧品等の開発・品質管理等に携わる方々に有効です。
- FT-IR分析とは?
- FT-IR分析の原理および特徴
- 装置の構成
- 赤外顕微鏡 (顕微FT-IR)
- 試料形態による測定法の選択
- 試料サンプリング
- 測定条件の設定
- 測定結果表示までのフロー
- スペクトルの連続取得
- スペクトルの解釈
- 正しいスペクトルが得られているか?
- スペクトルに現れる特徴とは?
- 官能基領域と指紋領域
- 解析から同定へのフロー
- 正しい解析と正しい解釈
- 様々な試料への適用例 (予定)
- 溶液中の微小異物の分析
- 劣化混入樹脂の分析
- 多層フィルムの分析
- 毛髪の分析
- 繊維・樹脂の分析
- 新規な手法と応用
- 放射光IR
- 近接場光の活用
- 熱振動に基づく測定
- まとめ
- 問題演習
- 個別相談