日時
- 2019年4月4日 10時00分〜 2019年4月4日 17時00分
開催予定
プログラム
試料の表面・界面の形態観察、元素分析、物質の同定・化学結合の状態解析を行う数多くの手法が存在する。 本講座では、これらの手法を原理から統一的に理解し、試料に応じた最適な分析手法を選択するための指針を与える。また、特に広く用いられている光電子分光法、振動分光法、原子間力顕微鏡による試料測定の実際について紹介する。
- 表面・界面分析技術
- 物質・材料と表面・界面
- 原子から構築される表面・界面
- 固体の基本的性質
- 機器分析と表面・界面分析
- プローブからみた表面・界面分析
- 光をプローブとする手法
- 電子をプローブとする手法
- イオンをプローブとする手法
- 波としてのプローブ
- X線回折
- 電子線回折
- 局所分析
- 投影型顕微鏡
- 走査型顕微鏡
- 表面・界面分析と真空技術
- 物質・材料と表面・界面
- 各論 (1) 光電子分光法
- 光電子分光法事始め
- 電子の分光
- 真空紫外光電子分光法
- X線光電子分光法
- 光電子分光法のニューウエーブ
- 各論 (2) 振動分光法
- 振動スペクトルによる化学結合の状態解析
- 赤外分光法
- ラマン分光法
- 各論 (3) 走査プローブ顕微鏡
- 走査型トンネル顕微鏡
- 原子間力顕微鏡
- 走査プローブ顕微鏡のニューウエーブ
- 質疑応答
会場
受講料
- 1名様: 50,000円(税別) / 55,000円(税込)
- 複数名: 45,000円(税別) / 49,500円(税込)
複数名同時受講割引について
- 2名様以上でお申込みの場合、
1名あたり 45,000円(税別) / 48,600円(税込) で受講いただけます。- 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 50,000円(税別) / 54,000円(税込)
- 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 90,000円(税別) / 97,200円(税込)
- 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 135,000円(税別) / 145,800円(税込)
- 同一法人内による複数名同時申込みのみ適用いたします。
- 受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。
- 他の割引は併用できません。