試料の表面・界面の形態観察、元素分析、物質の同定・化学結合の状態解析を行う数多くの手法が存在する。
本講座では、これらの手法を原理から統一的に理解し、試料に応じた最適な分析手法を選択するための指針を与える。また、特に広く用いられている光電子分光法、振動分光法、原子間力顕微鏡による試料測定の実際について紹介する。
- 表面・界面分析技術
- 物質・材料と表面・界面
- 原子から構築される表面・界面
- 固体の基本的性質
- 機器分析と表面・界面分析
- プローブからみた表面・界面分析
- 光をプローブとする手法
- 電子をプローブとする手法
- イオンをプローブとする手法
- 波としてのプローブ
- X線回折
- 電子線回折
- 局所分析
- 投影型顕微鏡
- 走査型顕微鏡
- 表面・界面分析と真空技術
- 各論 (1) 光電子分光法
- 光電子分光法事始め
- 電子の分光
- 真空紫外光電子分光法
- X線光電子分光法
- 光電子分光法のニューウエーブ
- 各論 (2) 振動分光法
- 振動スペクトルによる化学結合の状態解析
- 赤外分光法
- ラマン分光法
- 各論 (3) 走査プローブ顕微鏡
- 走査型トンネル顕微鏡
- 原子間力顕微鏡
- 走査プローブ顕微鏡のニューウエーブ