本セミナーでは、粒子径測定法の基礎から解説し、目的に合致した粒子径測定法の選択と活用法、活用時のポイントについて詳解いたします。
日時
- 2011年8月26日 10時30分〜 2011年8月26日 16時30分
開催予定
プログラム
従来、粒子径計測は品質管理の一環として1次粒子の粒子径やその分布を評価するのが主な目的であった。 近年、ナノ粒子が実用に供されるようになり、単に1次粒子径や粒子径分布を評価する目的だけでなく、分散性評価などプロセス評価の一環としても活用されるようになってきた。 本講では、目的に合致した粒子径測定法の選択の仕方とその活用法を紹介するとともに、活用する際に留意すべき点についても基礎原理に基づいて解説する。
- 様々な粒子径測定法とその分類
- 品質管理法としての粒子径測定法
- プロセス管理法としての粒子径測定法
- 測定対象による分類 … 乾式と湿式
- 測定原理による分類 … 分級方式と非分級方式
- 粒子濃度による分類 … 濃厚系と希薄系 (希釈系)
- 粒子径測定法の各論【1】
希薄系 (希釈系) に適した測定法 … 原理から考える長所・短所- レーザー回折法
- 動的光散乱法
- 画像イメージング法
- (ディスク) 遠心沈降法
- 電気的検知帯法
- 比表面積測定法 (比表面積からの換算粒子径)
- 粒子径測定法の各論【2】
濃厚系 (希釈しない系) に適した測定法- 超音波スペクトロスコピー法
- 1次粒子径の評価と希釈系との比較
- 濃厚系での測定とプロセス評価
- 実用系への適用例
- インク
- 電池用スラリー
- 情報電子材料スラリー
- ESA法 (交流電場印加法)
- 濃厚系への適用例
- 超音波スペクトロスコピー法
- 質疑応答・名刺交換
会場
受講料
- 1名様: 45,000円(税別) / 49,500円(税込)
- 複数名: 38,000円(税別) / 41,800円(税込)
複数名同時受講の割引特典について
- 2名で参加の場合、1名につき 7,350円割引
- 3名で参加の場合、1名につき 10,500円割引 (同一法人に限ります)