パワー半導体デバイスの故障要因と高信頼化のための故障解析技術

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本セミナーでは、パワー半導体デバイスの高信頼化のために学んでおきたい、故障要因や加速試験・故障解析手法などについて、最新動向を含めて解説いたします。

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プログラム

21世紀は最終的に消費されるエネルギーの大半が電力になると予想されており、まさに電気の時代の到来といえます。パワー半導体デバイスは、電力エネルギーを目的に合わせて変換する電子デバイスであり、家電製品からハイブリッド自動車、太陽光発電や風力発電、さらには直流送電など電力ネットワーク構築に欠かせないキーコンポーネントです。今後ますます拡大する需要に対応するため、パワー半導体デバイスの信頼性に対する要求も高まってきています。  本講演では、パワー半導体デバイスの信頼性の考え方から、高信頼化に向けた加速試験および故障解析手法について、最近の動向を踏まえて解説します。

  1. パワーエレクトロニクス技術
    1. パワーエレクトロニクスとは
    2. パワー半導体デバイス
    3. 電力システムとパワーエレクトロニクス
  2. パワー半導体デバイスの信頼性
    1. 故障原因と故障事例
    2. 高信頼化の手法
    3. 故障モードと加速試験
    4. ミッションプロファイル
  3. 故障解析技術
    1. 加速試験
    2. 故障解析手法 (一般的技術から最新技術まで)
  4. 今後の展開
    • 次世代パワー半導体デバイスの信頼性

会場

東京流通センター
143-0006 東京都 大田区 平和島6-1-1
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