日時
- 2018年4月17日 13時00分〜 2018年4月17日 16時30分
中止
プログラム
粒子径測定は、工業分野での開発や品質管理、および基礎研究においても幅広く行われています。 測定する対象サンプルも、医薬品、食品、研磨剤、化学製品、セメント、土壌など多岐に渡ります。これらの測定対象のほか、測定したい粒子径の大きさの範囲や測定目的によっても、最適な測定手法を選んで使い分けることが重要です。 たとえば、主にミクロン領域の粒子径の大きさの分布を、簡便に再現性良く評価するには、レーザー回折・散乱法が最も良く使われていますが、粒子の形状や流動性を評価するには、画像法など別の手法が必要になります。また、1ミクロン以下のいわゆる「サブミクロン粒子」や「ナノ粒子」では、光学顕微鏡による測定は困難で、電子顕微鏡を用いることで観察は可能ですが、一度に多くの粒子を測定することが困難で、統計的な再現性に問題が生じます。このような微小粒子の敏速な測定には動的光散乱法 (DLS) が最も良く使われますが、広い分布を持ったサンプル中の小粒子側の測定精度など課題もあります。近年では、サブミクロンやナノ粒子をより正確に測定するための新たな手法がいくつか開発され、医薬や材料開発などの最先端分野で応用されています。 本講座では、粒子径分布測定に用いられる多くの手法の原理と特徴、使い分け、および注意点につきまして、できる限り幅広く、かつ詳細にお伝えしたいと思います。最も初歩的なところから、専門用語も解説致しますので、受講に当たっての予備知識は不要です。 本講座では、主にレーザー回折を専門とする講師 (池田) と、主に画像解析と粉体流動性測定装置を専門とする講師 (平村) が分担し、粒子や粉体を扱われる全ての皆様にとって、基礎となる計測の知識をお持ち帰り頂けるような講演を目指します。
- 粒子径分布の基礎 (池田)
- D50など代表粒子径の定義
- 測定方法によって値が変わる
- 様々な測定原理と使い分け
- レーザー回折散乱法 (池田)
- 測定原理
- ハードウェア・ソフトウェアの構成
- 長所・短所、測定事例
- 装置の買い替え時の注意事項
- 動的光散乱法 (DLS) とゼータ電位測定 (池田)
- 測定原理
- ハードウェア・ソフトウェアの構成
- 長所・短所、測定事例
- 新しい原理の粒子径測定法 (池田)
- ナノトラッキング法 (NTA、PTA)
- 共振式質量測定法 (RMM)
- テーラー分散法
- プロセス用粒子径分布測定装置 (池田)
- 装置構成
- 適用のための課題
- 応用事例
- 画像解析法 (平村)
- 測定原理
- ハードウェア・ソフトウェア
- 測定事例
- パウダーレオメーター (平村)
- 測定項目
- 装置概要
- 応用事例
- 質疑応答・名刺交換
会場
受講料
- 1名様: 38,000円(税別) / 41,800円(税込)
- 複数名: 20,000円(税別) / 22,000円(税込)
複数名同時受講の割引特典について
- 2名様以上でお申込みの場合、
1名あたり 20,000円(税別) / 21,600円(税込) で受講いただけます。- 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 38,000円(税別) / 41,040円(税込)
- 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 40,000円(税別) / 43,200円(税込)
- 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 60,000円(税別) / 64,800円(税込)
- 同一法人内 (グループ会社でも可) による複数名同時申込みのみ適用いたします。
- 受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。
- 請求書および領収書は1名様ごとに発行可能です。
申込みフォームの通信欄に「請求書1名ごと発行」と記入ください。 - 他の割引は併用できません。