日時
- 2018年3月6日 10時00分〜 2018年3月6日 17時00分
中止
プログラム
電子機器の低コスト化のために海外製の電子部品を使用するメーカが増えてきていますが、それに比例してトラブルを引き起こす事例が多く見受けられます。 これらのトラブルをなくすため、本セミナーでは、トラブルの未然防止対策のための信頼性試験の考え方ややり方を詳細に解説します。 その結果、電子機器が市場の使用環境でいつ (どのくらい使ったら) 、どのくらいの割合で故障が起こるのか予測でき、トラブルの未然防止を行うことができるようになります。
- 電子機器・部品の市場トラブルの現状と課題
- 電子機器・部品の市場トラブルの現状
- なぜ市場トラブルが起こったのかを考える
- 電子機器・部品を評価する際に用いる信頼性試験法と信頼性用語
- 信頼性用語の意味・定義
- 故障の数と時間の関係
- いろいろな信頼性試験とその目的
- 電子回路・部品の寿命評価に用いる信頼性の理論
- 使用環境の温度と故障する時間の関係 (アレニウスモデルの適用)
- 温度に加えて湿度も考慮した場合 (アイリングモデルを適用)
- 加速試験による市場での寿命予測の実際
- 寿命に影響するストレス
- 寿命予測のプロセス
- 加速試験による市場での寿命予測事例
- 質疑応答
会場
受講料
- 1名様: 50,000円(税別) / 55,000円(税込)
- 複数名: 45,000円(税別) / 49,500円(税込)
複数名同時受講割引について
- 2名様以上でお申込みの場合、
1名あたり 45,000円(税別) / 48,600円(税込) で受講いただけます。- 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 50,000円(税別) / 54,000円(税込)
- 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 90,000円(税別) / 97,200円(税込)
- 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 135,000円(税別) / 145,800円(税込)
- 同一法人内による複数名同時申込みのみ適用いたします。
- 受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。
- 他の割引は併用できません。