日時
- 2017年11月30日 10時30分〜 2017年11月30日 16時30分
開催予定
プログラム
- 赤外線・テラヘルツとは
- 光、電磁波
- 赤外線・テラヘルツの分類
- 赤外線とテラヘルツ波の性質と特徴
- 光・電波および赤外線・テラヘルツの研究の歴史
- 光の研究のはじまり
- 光と電波、熱放射と電波放射
- 赤外線の発見と赤外線からテラヘルツへ
- 超短テラヘルツパルスの発生と検出
- 電磁波のマクスウェル方程式
- マクスウェル方程式を読む
- 電磁界の波動の性質
- 物質との相互作用と赤外線・テラヘルツ材料
- 物質と電磁波の相互作用、連続スペクトルと線スペクトル
- 透過と反射、吸収、散乱と回折および消散
- 大気の伝搬特性
- 赤外線透過材料
- テラヘルツ透過材料、電気光学効果材料
- 赤外線・テラヘルツ光源
- 熱放射に関するキルヒホッフの法則、吸収率、反射率と放射率
- プランクの法則と黒体放射、灰色体放射
- 自然放出と誘導放出と黒体放射、レーザー
- 赤外線・テラヘルツ光源
- 赤外・テラヘルツ半導体量子カスケードレーザー
- 赤外線・テラヘルツ検出器と感度
- 赤外線・テラヘルツ波の検出
- 感度
- 光子 (量子型) 検出器
- 熱型検出器
- 電界検出器
- 赤外線・テラヘルツ検出器
- 赤外線・テラヘルツ検出器の雑音
- 雑音と分散、標準偏差
- ランダム離散発生のスペクトル密度関数
- ショット雑音
- 熱雑音と誘電損雑音
- 生成・再結合雑音と光子雑音
- 温度ゆらぎによる雑音
- f分の1雑音
- 光子検出器およびボロメータの雑音
- OPアンプ増幅器出力における雑音
- 赤外線・テラヘルツ検出器の性能指標と評価
- 性能指標
- NEP (雑音等価電力)
- 検出能Dおよび比検出能D*
- 雑音等価放射照度 (NEI)
- 雑音等価温度差 (NETD)
- テラヘルツ検出器の性能評価
- 赤外・テラヘルツ計測の方法
- 放射計測、温度計測
- イメージング
- 分光計測
- プリズム分光法
- グレーティング分光法
- フーリエ分光法 (FTIR)
- テラヘルツ時間領域分光法 (THz – TDS)
- ハイパースペクトラルイメージング
- テラヘルツ近接場顕微鏡
- 赤外線計測の応用
- 放射温度計測とサーモグラフィ
- 建物劣化診断
- パンデミック対策
- 事故防止車載暗視カメラ
- 赤外分光・分析の応用
- 運転者のアルコール検知
- てのひら静脈個人認証
- 赤外リモートセンシング、天文学、防衛
- CO2濃度の全地球モニター
- 都市の熱環境の解析
- 吹付コンクリートのり面の老朽化検査
- 赤外銀河の観測
- 赤外2波長カメラによる航空機検知
- ハイパースペクトラルイメージングの応用
- 空撮による地表の植生
- 鉱物分布のモニター
- 広域探索
- 医療検査応用 (血管、癌)
- 食品・薬品中の混合物のモニター
- 毛髪の保湿度のモニター
- 人のストレスの検知
- 放射温度計測とサーモグラフィ
- テラヘルツ計測の応用
- テラヘルツ分光
- 医薬品の成分モニター
- 生体分子の水和度の検出
- 農産物中の機能成分モニター
- 食製品の毛髪混入検知
- テラヘルツアクティブイメージング
- 半導体材料の電気性能測定
- 医療検査
- 葉中の水分モニター
- 荷物検査
- 封筒検査
- 古美術品の診断
- パッケージ・塗装・発泡材料の非破壊検査
- テラヘルツパッシブイメージング
- 安全・安心・防犯のための監視・スクリーニング
- 冷凍品のモニター
- 超伝導線のモニター
- テラヘルツ3次元イメージング
- 錠剤の糖衣膜厚の検査
- 3次元CT
- テラヘルツ分光
会場
受講料
- 1名様: 46,000円(税別) / 50,600円(税込)
- 複数名: 57,000円(税別) / 62,700円(税込)