赤外線・テラヘルツセンサの基礎と応用

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プログラム

  1. 赤外線・テラヘルツとは
    1. 光、電磁波
    2. 赤外線・テラヘルツの分類
    3. 赤外線とテラヘルツ波の性質と特徴
  2. 光・電波および赤外線・テラヘルツの研究の歴史
    1. 光の研究のはじまり
    2. 光と電波、熱放射と電波放射
    3. 赤外線の発見と赤外線からテラヘルツへ
    4. 超短テラヘルツパルスの発生と検出
  3. 電磁波のマクスウェル方程式
    1. マクスウェル方程式を読む
    2. 電磁界の波動の性質
  4. 物質との相互作用と赤外線・テラヘルツ材料
    1. 物質と電磁波の相互作用、連続スペクトルと線スペクトル
    2. 透過と反射、吸収、散乱と回折および消散
    3. 大気の伝搬特性
    4. 赤外線透過材料
    5. テラヘルツ透過材料、電気光学効果材料
  5. 赤外線・テラヘルツ光源
    1. 熱放射に関するキルヒホッフの法則、吸収率、反射率と放射率
    2. プランクの法則と黒体放射、灰色体放射
    3. 自然放出と誘導放出と黒体放射、レーザー
    4. 赤外線・テラヘルツ光源
    5. 赤外・テラヘルツ半導体量子カスケードレーザー
  6. 赤外線・テラヘルツ検出器と感度
    1. 赤外線・テラヘルツ波の検出
    2. 感度
    3. 光子 (量子型) 検出器
    4. 熱型検出器
    5. 電界検出器
    6. 赤外線・テラヘルツ検出器
  7. 赤外線・テラヘルツ検出器の雑音
    1. 雑音と分散、標準偏差
    2. ランダム離散発生のスペクトル密度関数
    3. ショット雑音
    4. 熱雑音と誘電損雑音
    5. 生成・再結合雑音と光子雑音
    6. 温度ゆらぎによる雑音
    7. f分の1雑音
    8. 光子検出器およびボロメータの雑音
    9. OPアンプ増幅器出力における雑音
  8. 赤外線・テラヘルツ検出器の性能指標と評価
    1. 性能指標
    2. NEP (雑音等価電力)
    3. 検出能Dおよび比検出能D*
    4. 雑音等価放射照度 (NEI)
    5. 雑音等価温度差 (NETD)
    6. テラヘルツ検出器の性能評価
  9. 赤外・テラヘルツ計測の方法
    1. 放射計測、温度計測
    2. イメージング
    3. 分光計測
    4. プリズム分光法
    5. グレーティング分光法
    6. フーリエ分光法 (FTIR)
    7. テラヘルツ時間領域分光法 (THz – TDS)
    8. ハイパースペクトラルイメージング
    9. テラヘルツ近接場顕微鏡
  10. 赤外線計測の応用
    1. 放射温度計測とサーモグラフィ
      • 建物劣化診断
      • パンデミック対策
      • 事故防止車載暗視カメラ
    2. 赤外分光・分析の応用
      • 運転者のアルコール検知
      • てのひら静脈個人認証
    3. 赤外リモートセンシング、天文学、防衛
      • CO2濃度の全地球モニター
      • 都市の熱環境の解析
      • 吹付コンクリートのり面の老朽化検査
      • 赤外銀河の観測
      • 赤外2波長カメラによる航空機検知
    4. ハイパースペクトラルイメージングの応用
      • 空撮による地表の植生
      • 鉱物分布のモニター
      • 広域探索
      • 医療検査応用 (血管、癌)
      • 食品・薬品中の混合物のモニター
      • 毛髪の保湿度のモニター
      • 人のストレスの検知
  11. テラヘルツ計測の応用
    1. テラヘルツ分光
      • 医薬品の成分モニター
      • 生体分子の水和度の検出
      • 農産物中の機能成分モニター
      • 食製品の毛髪混入検知
    2. テラヘルツアクティブイメージング
      • 半導体材料の電気性能測定
      • 医療検査
      • 葉中の水分モニター
      • 荷物検査
      • 封筒検査
      • 古美術品の診断
      • パッケージ・塗装・発泡材料の非破壊検査
    3. テラヘルツパッシブイメージング
      • 安全・安心・防犯のための監視・スクリーニング
      • 冷凍品のモニター
      • 超伝導線のモニター
    4. テラヘルツ3次元イメージング
      • 錠剤の糖衣膜厚の検査
      • 3次元CT

会場

中央大学 駿河台記念館
101-0062 東京都 千代田区 神田駿河台3丁目11−5
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