電子デバイスの実践的な信頼性評価

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本セミナーでは、信頼性の基礎から解説し、電子デバイスの実践的な信頼性評価技術、最適な評価方法の選定、評価事例について詳解いたします。

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プログラム

  1. 現状の信頼性の課題
    1. 高信頼性への要求とコストダウン
  2. 信頼性評価技術
    1. 信頼性評価技術
      • 信頼性試験、劣化評価
      • 特性評価
      • 良品解析
      • 故障解析
    2. 信頼性評価技術の適用と課題
      ～信頼性レベルや評価目的に則した最適な評価方法の検討・決定法～
  3. 市場故障の原因
    1. バスタブ曲線
    2. LSIにおける代表的な故障
    3. 故障に対する加速要因
  4. 実践的な評価法とデバイスへの適用
    ～車載電子部品・太陽電池・LED等～
    1. 市場流通品の解析法と事例
    2. 良品解析
      • 良品解析法の有効性と方法
      • 信頼度を数値評価するLSIプロセス診断法
      • 良品解析のIC/LSI以外のデバイスへの適用
    3. 実装設計のための熱解析
    4. 市場故障に対する故障解析、解析法と実施例

会場

株式会社オーム社 オームセミナー室
101-8460 東京都 千代田区 神田錦町3-1
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