本セミナーでは、信頼性の基礎から解説し、電子デバイスの実践的な信頼性評価技術、最適な評価方法の選定、評価事例について詳解いたします。
日時
- 2011年6月27日 10時30分〜 2011年6月27日 16時30分
開催予定
プログラム
- 現状の信頼性の課題
- 高信頼性への要求とコストダウン
- 信頼性評価技術
- 信頼性評価技術
- 信頼性試験、劣化評価
- 特性評価
- 良品解析
- 故障解析
- 信頼性評価技術の適用と課題
～信頼性レベルや評価目的に則した最適な評価方法の検討・決定法～
- 信頼性評価技術
- 市場故障の原因
- バスタブ曲線
- LSIにおける代表的な故障
- 故障に対する加速要因
- 実践的な評価法とデバイスへの適用
～車載電子部品・太陽電池・LED等～- 市場流通品の解析法と事例
- 良品解析
- 良品解析法の有効性と方法
- 信頼度を数値評価するLSIプロセス診断法
- 良品解析のIC/LSI以外のデバイスへの適用
- 実装設計のための熱解析
- 市場故障に対する故障解析、解析法と実施例
会場
受講料
- 1名様: 43,000円(税別) / 47,300円(税込)
- 複数名: 55,000円(税別) / 60,500円(税込)
割引特典について
- 複数名 同時受講:
1口 57,750円(税込) (3名まで受講可能) - 早期申込割引:
2011年5月27日 17:00までのお申込は、
1名受講・1口受講とともに受講料から10%割引となります。