外観検査の自動化
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会場 開催
日時
2017年6月28日 10時30分
〜
2017年6月28日 16時30分
開催予定
プログラム
第1講 機械学習の外観検査への応用
(2017年6月28日 10:30〜12:30)
外観検査概要
画像認識技術概要
なぜ伸びているか
画像の撮影
撮影画像の課題
外観検査技術
機械学習の概要
ルールベースと学習ベース
学習ベースの課題
学習方法の種類
教師あり学習
教師なし学習
半教師あり学習
学習方法の選択方法
特徴量の設計
特徴量の種類
特徴量の次元数とデータ数
データオーギュメンテーション
性能評価方法
評価指標
未検出
過検出
ROC
AUC
DETなど
オーバーフィットとアンダーフィット
未学習データに対する認識性能
交差検定
実例
簡単な特徴量・モデル
少し複雑な特徴量・モデル
画像認識・機械学習による外観検査の今後
第2講 外観検査の画像処理とその実際
(2017年6月28日 13:30〜16:30)
デジタル画像の数理と基本事項
標本化、量子化の理論
シャノンの標本化定理
OK量子化理論
画像デジタル化の統一理論
画像処理技術概観
ピクセル指標
多元ヒストグラムと共起ヒストグラム画像CFI
平滑化、エッジ検出
エッジ検出四大原理について
濃度値指標
コントラスト・濃度勾配指標
狭隘指標とCFI画像
リンギング指標、など
大局視覚の画像処理とHough変換
基本原理と拡張
直線、円、楕円/GHT/EHT (全単射変換関数)
高速化、効率化、高性能化のアルゴリズム
PLHT
FHI
CHT
RHT
など
Hough変換の今後の展開
画像検査問題と万能検査法
画像検査のKIZKIアルゴリズム
周辺視と固視微動
深層学習とKIZKIアルゴリズム
適用事例と今後
画像産業応用現場の概観
SSIIの学術活動
ViEW、DIAの学術活動
今後の展望
会場
株式会社オーム社 オームセミナー室
101-8460
東京都
千代田区
神田錦町3-1
株式会社オーム社 オームセミナー室の地図
受講料
1名様: 46,000円(税別) / 50,600円(税込)
複数名: 57,000円(税別) / 62,700円(税込)
割引特典について
複数名 同時受講:
1口 57,000円(税別) / 61,560円(税込) (3名まで受講可能)