日時
- 2017年7月21日 10時30分〜 2017年7月21日 16時30分
開催予定
プログラム
- 赤外線・テラヘルツとは
- 光、電磁波
- 赤外線・テラヘルツの分類
- 基本的な性質と特徴
- 光・赤外線・電波の研究の歴史
- 赤外線の発見
- 光の粒子説と波動説、
- 熱放射と電波の放射
- 赤外線からテラヘルツへ
- 電磁波のマクスウェル方程式
- 光・赤外線・電波のマクスウェル方程式
- 電磁界の波動の性質
- 赤外線の伝搬
- 透過と反射
- 吸収
- 散乱と回折および消散
- 大気の伝搬特性
- 透過材料
- 赤外線の放射
- 熱放射に関するキルヒホッフの法則
- 吸収率,反射率と放射率
- プランクの法則と黒体放射、灰色体放射
- 連続スペクトルと線スペクトル,自然放射と誘導放射
- 光源
- 赤外検出器と感度
- 赤外線・テラヘルツ波の検出・計測
- 感度
- 光子 (量子型) 検出
- 熱的検出
- 電界検出
- 検出器の種類
- 赤外検出器の雑音
- 雑音と分散、標準偏差
- ランダム離散発生のスペクトル密度関数
- ショット雑音
- 熱雑音と誘電損雑音
- 生成・再結合雑音と光子雑音
- 熱伝導ゆらぎによる雑音、f分の1雑音
- 量子型および熱型検出器の雑音
- OPアンプ増幅器出力における雑音
- 赤外検出器の性能指標と評価
- 性能指標
- NEP (雑音等価電力)
- 検出能Dおよび比検出能D*
- 雑音等価放射照度 (NEI)
- 雑音等価温度差 (NETD)
- 性能評価法
- 赤外・テラヘルツ計測の方法
- 放射計測
- 温度計測
- 分光計測
- ハイパースペクトラルイメージング
- プリズム分光法
- グレーティング分光法
- フーリエ分光法 (FTIR)
- テラヘルツ時間領域分光法 (THz – TDS)
- 赤外線計測の応用
- 放射温度計測とサーモグラフィ
- 建物劣化診断
- パンデミック対策
- 事故防止車載暗視カメラ
- 赤外分光・分析の応用
- 運転者のアルコール検知
- てのひら静脈個人認証
- 赤外リモートセンシング、天文学、防衛
- CO2濃度の全地球モニター
- 都市の熱環境の解析
- 吹付コンクリートのり面の老朽化検査
- 赤外銀河の観測
- 赤外2波長カメラによる航空機検知
- ハイパースペクトラルイメージングの応用
- 空撮による地表の植生、鉱物分布のモニター
- 医療検査応用 (血管、癌)
- 食品・薬品中の混合物のモニター
- 毛髪の保湿度のモニター
- 人のストレスの検知
- 放射温度計測とサーモグラフィ
- テラヘルツ計測の応用
- テラヘルツ分光
- 医薬品の成分モニター
- 生体分子の水和度の検出
- 農産物中の機能成分のモニター
- 食品中の毛髪混入の検知
- テラヘルツアクティブイメージング
- 葉中の水分モニター
- 荷物検査
- 封筒検査
- 古絵画の絵具分析
- テラヘルツパッシブイメージング
- パッシブボディスキャナー
- 冷凍品のモニター
- 高温超伝導線のモニター
- テラヘルツ3次元イメージング
- 錠剤の糖衣膜厚の検査
- 3次元CT
- テラヘルツ近接場顕微鏡
- 無開口プローブ顕微鏡
- 開口プローブによる近接場検出
- テラヘルツ分光
会場
受講料
- 1名様: 46,000円(税別) / 50,600円(税込)
- 複数名: 57,000円(税別) / 62,700円(税込)