電子部品の故障メカニズムと試験法

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このセミナーでは、信頼性の基礎から解説し、電子部品の故障寿命の予測方法をPC実習を交えて修得していただきます。

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プログラム

電子機器の小型・軽量化に伴い、それに搭載される電子部品も小型化・薄膜化が進んでいます。一方、コストダウン狙いで海外の部品の使用に伴い、市場トラブルが増加傾向にあり、リコールなどで多額のコストが発生しています。  このような状況では、電子機器に使用する電子部品の信頼性を調達する際にいかに見極めるかが重要となっています。  そこで本講座では、信頼性の基礎知識から電子部品の故障寿命の予測方法まで受動部品を中心に実際の例を使いながら解説し、部品の調達のポイントとなる情報を提供します。  電子部品での市場トラブルを少しでも少なくするために、ぜひ、ご参加ください。

  1. 電子部品を調達する時の課題
    1. 電子部品のトラブルの現状
    2. 信頼性の高い電子部品を調達する方法
      1. 購入基板でも評価すべき部品とは
      2. 部品メーカと整合すべき項目
  2. 部品調達時に知っておくべきこと
    1. いろいろな用語の意味
    2. 故障の数は時間と共にどう変化するのか
    3. 最初にチェックすべきポイント (外観などから)
    4. 次ににチェックすべきポイント (試験などから)
    5. カタログから故障の時間と率を予測する方法
  3. 調達する際に実施する試験内容
    1. 温度劣化に対する故障再現の試験法
    2. 湿度劣化に対する故障再現の試験法
    3. 解析に便利な簡易EXCELソフト (PC実習)
    4. 実際の市場環境に対する故障率の予測法
  4. 市場トラブルの解説
    1. AL電解コンデンサの故障メカニズム解説
    2. フィルムコンデンサの故障メカニズム解説

会場

タイム24ビル
135-8073 東京都 江東区 青海2丁目4-32
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