本セミナーでは、FT-IR、ラマン分光法の基礎から試料サンプリングやスペクトル解析のコツまで、実際の現場で “使える” 異物分析の知識・ノウハウを詳解いたします。
日時
- 2017年2月16日 10時30分〜 2017年2月16日 16時30分
開催予定
プログラム
異物は食品、医薬品、塗膜、プラスチック成品、半導体、電子基板などいろいろな製品中で発生する。異物発生の対策には、まず異物の構造を知ることが必要であり、それが混入経路の推定に役立つだけでなく異物混入防止の重要なポイントとなる。異物分析は微小物の分析に限ったわけではないが、最近の異物は微小化の傾向にありほとんどが顕微分析で行われる。 異物の構造同定にはFT – IR、ラマン分光法がよく使用される。本講ではまず、両分光法の基礎を概説する。また、異物分析では測定法の選択とそれに適した試料サンプリングが必要である。最近いろいろなサンプリングツールが利用できるようになった。実際にサンプリングツール見ていただき、その特性を知ることで試料調整に活かしていただきたいと思っている。異物スペクトルの解析にも言及する。
- 異物の形態観測
- 形態観察とサンプリング方法
- どんな測定法を適用するか
- FT – IR分光法の基礎
- 各種測定法とその特徴
- 測定法の違いとスペクトル
- ラマン分光の基礎
- 各種測定法
- 蛍光対策
- 注意事項
- サンプリングツール
- サンプリングツールのいろいろ
- サンプリングツールの使い方実演
- スペクトル分析
- FT-IR、ラマン分析事例の紹介
- スペクトルデータベース
- 目的とサンプル形状に適合した測定法の選択
- トピックス
- 質疑応答
会場
受講料
- 1名様: 42,750円(税別) / 47,025円(税込)
- 複数名: 22,500円(税別) / 24,750円(税込)
複数名同時受講の割引特典について
- 2名様以上でお申込みの場合、
1名あたり 22,500円(税別) / 24,300円(税込) で受講いただけます。- 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 42,750円(税別) / 46,170円(税込)
- 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 45,000円(税別) / 48,600円(税込)
- 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 67,500円(税別) / 72,900円(税込)
- 受講者全員が会員登録をしていただいた場合に限ります。
- 同一法人内(グループ会社でも可)による複数名同時申込みのみ適用いたします。
- 受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。
- 請求書および領収書は1名様ごとに発行可能です。
申込みフォームの通信欄に「請求書1名ごと発行」と記入ください。 - 他の割引は併用できません。