赤外線・テラヘルツセンサの基礎と応用
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会場 開催
日時
2017年2月16日 12時30分
〜
2017年2月16日 16時30分
開催予定
プログラム
赤外線・テラヘルツとは
光、電磁波
赤外線・テラヘルツの分類
基本的な性質と特徴
光・赤外線・電波の研究の歴史
赤外線の発見
光の粒子説と波動説、
熱放射と電波の放射
赤外線からテラヘルツへ
電磁波のマクスウェル方程式
光・赤外線・電波のマクスウェル方程式
電磁界の波動の性質
赤外線の伝搬
透過と反射
吸収
散乱と回折および消散
大気の伝搬特性
透過材料
赤外線の放射
熱放射に関するキルヒホッフの法則
吸収率、反射率と放射率
プランクの法則と黒体放射、灰色体放射
連続スペクトルと線スペクトル、自然放射と誘導放射
光源
赤外検出器と感度
赤外線・テラヘルツ波の検出・計測
感度
光子 (量子型) 検出
熱的検出
電界検出
検出器の種類
赤外検出器の雑音
雑音と分散、標準偏差
ランダム離散発生のスペクトル密度関数
ショット雑音
熱雑音と誘電損雑音
生成・再結合雑音と光子雑音
熱伝導ゆらぎによる雑音、f分の1雑音
量子型および熱型検出器の雑音
OPアンプ増幅器出力における雑音
赤外検出器の性能指標と評価
性能指標
NEP
(雑音等価電力)
検出能Dおよび比検出能D*
雑音等価放射照度 (
NEI
)
雑音等価温度差 (
NETD
)
性能評価法
赤外・テラヘルツ計測の方法
放射計測
温度計測
分光計測
ハイパースペクトラルイメージング
プリズム分光法
グレーティング分光法
フーリエ分光法 (
FTIR
)
テラヘルツ時間領域分光法 (THz-
TDS
)
赤外線計測の応用
放射温度計測とサーモグラフィ
建物劣化診断
パンデミック対策
事故防止車載暗視カメラ
赤外分光・分析の応用
運転者のアルコール検知
てのひら静脈個人認証
赤外リモートセンシング、天文学、防衛
CO2濃度の全地球モニター
都市の熱環境の解析
吹付コンクリートのり面の老朽化検査
赤外銀河の観測
赤外2波長カメラによる航空機検知
ハイパースペクトラルイメージングの応用
空撮による地表の植生
鉱物分布のモニター
医療検査応用 (血管、癌)
食品・薬品中の混合物のモニター
毛髪の保湿度のモニター
人のストレスの検知
テラヘルツ計測の応用
テラヘルツ分光
医薬品の成分モニター
生体分子の水和度の検出
農産物中の機能成分のモニター
食品中の毛髪混入の検知
テラヘルツアクティブイメージング
葉中の水分モニター
荷物検査
封筒検査
古絵画の絵具分析
テラヘルツパッシブイメージング
パッシブボディスキャナー
冷凍品のモニター
高温超伝導線のモニター
テラヘルツ3次元イメージング
錠剤の糖衣膜厚の検査
3次元CT
テラヘルツ近接場顕微鏡
無開口プローブ顕微鏡
開口プローブによる近接場検出
会場
株式会社オーム社 オームセミナー室
101-8460
東京都
千代田区
神田錦町3-1
株式会社オーム社 オームセミナー室の地図
受講料
1名様: 43,000円(税別) / 47,300円(税込)
複数名: 56,000円(税別) / 61,600円(税込)