日時
- 2016年1月28日 13時00分〜 2016年1月28日 17時00分
開催予定
プログラム
- 赤外線・テラヘルツ波とは
- 赤外線と電磁波
- 赤外線・テラヘルツ波の分類
- 赤外線の性質
- テラヘルツ波の性質
- 光・赤外線・電波の研究の歴史
- 光の波動説
- 電磁気学とマックスウェル
- ヘルツの電磁気波動の発生と検出
- プランクの黒体放射の方程式
- アインシュタインの光量子仮説
- 赤外線・テラヘルツ波研究の歴史
- 電磁波のマクスウェル方程式
- 光と電波と赤外線
- マックスウェル方程式と電磁界の波動
- 赤外線の伝搬
- 透過と反射
- 吸収
- 散乱と回折および消散
- 大気の伝搬特性
- 赤外線の放射
- 熱放射に関するキルヒホッフの法則
- 吸収率,反射率と放射率
- プランクの法則と黒体放射
- 灰色体放射と放射率
- 連続スペクトルと線スペクトル,自然放射と誘導放射
- 赤外線検出器と感度
- 赤外線・テラヘルツ波の検出・計測
- 赤外線・テラヘルツ波の検出器の感度
- 光子 (量子型) 検出器の感度
- 熱的検出器の感度
- 電界検出器の感度
- 赤外線・テラヘルツ波検出器の分類
- 赤外線出器の雑音
- 雑音と分散、標準偏差
- ランダム離散発生のスペクトル密度関数
- ショット雑音
- 熱雑音と誘電損雑音
- 生成・再結合雑音と光子雑音
- 熱伝導ゆらぎによる雑音
- f分の1雑音
- 量子型検出器の雑音
- 熱型検出器の雑音
- OPアンプ増幅器出力における雑音
- 赤外線検出器の性能指標と評価
- 赤外線検出器の性能指標
- NEP (雑音等価電力)
- 検出能Dおよび比検出能D*
- 雑音等価放射照度 (NEI)
- 雑音等価温度差 (NETD)
- 赤外線・テラヘルツ検出器の性能評価法
- 赤外線計測の方法
- 放射計測
- 実際の赤外線計測で測定している放射
- 温度計測
- 放射温度と分光温度
- 分光計測
- 赤外線・テラヘルツ波の分光法
- プリズム分光法
- グレーティング分光法
- フーリエ分光法 (FT IR)
- テラヘルツ時間領域分光法 (THz-TDS)
- 赤外線計測の応用
- 放射温度計測とパッシブセンシング
- サーモグラフィの応用
- 赤外リモートセンシング
- 赤外分光・分析の応用
- 赤外線・サブミリ波天文学
- 赤外線防衛応用
- テラヘルツセンシングの応用
- テラヘルツ分光の応用
- テラヘルツアクティブイメージング
- テラヘルツパッシブイメージング
- テラヘルツCT
- テラヘルツ近接場顕微鏡
会場
受講料
- 1名様: 43,000円(税別) / 47,300円(税込)
- 複数名: 56,000円(税別) / 61,600円(税込)
割引特典について
- 複数名 同時受講:
1口 56,000円(税別) / 60,480円(税込) (3名まで受講可能)