本セミナーでは、故障モデルや信頼性試験の基礎知識を概説し、データ解析、抜き取り試験、加速試験の進め方や留意点をわかりやすく説明いたします。
日時
- 2015年12月21日 10時00分〜 2015年12月21日 17時00分
開催予定
プログラム
- トラブル未然防止と信頼性七つ道具 (R7)
- トラブルの未然防止
- 三位一体の信頼性・安全性解析
- 信頼性の基礎
- 故障とは
- ストレス
- 故障メカニズム
- 故障モード
- 信頼性の尺度
- 信頼度
- 故障率
- 寿命の代表値
- MTTF
- MTBF
- ビーテン寿命
- システムの信頼性モデル
- 直列モデル
- 鎖モデル
- 並列モデル
- 綱モデル
- 直列モデル
- バスタブ曲線に基づく故障分布モデル
- 指数分布
- ワイブル分布
- 故障とは
- 信頼性試験運用の基礎知識
- なぜ信頼性試験を行うのか
- 信頼性試験のいろいろ
- 信頼性試験で気をつけたいこと
- 計画面
- 実行面
- 立ちはだかる「数と時間の壁」
- 故障物理の基礎
- 故障モデルの全体マップ
- 加速試験を支える故障モデル
- ストレス・強度モデル
- 累積損傷モデル
- マイナー則
- 反応論モデル
- アレニウス則
- アイリング則
- 固有技術に基づく代表的な故障成長モデル
- 機械的劣化現象
- クリープ
- 疲労
- クラック
- 応力腐食
- 化学的劣化現象
- 酸化
- 腐食
- イオンマイグレーション
- 汚染
- 熱的劣化現象
- 熱疲労
- 合金化
- 溶断
- 結晶欠陥
- 電気的劣化現象
- 過電圧/過電流
- 静電破壊
- 放電
- エレクトロマイグレーション
- 溶断
- 機械的劣化現象
- 加速寿命試験の原理
- 経験に基づく加速の方法
- 加速性の成立条件と加速係数
- 故障物理モデルに基づく加速試験法
- アレニウス則
- θ度則
- べき乗則
- 複合ストレスの加速モデル
- 加速試験で気をつけること
- (参考) 定性的加速試験法 (HALT) について
- 信頼性抜取試験の原理
- 信頼性抜取試験のいろいろ
- 指数分布に基づく計数一回抜取方式のデザイン (演習含む)
- LTFR保証型
- 基準型
- JIS C 5003 電子部品の故障率試験方法通則の要点
- 指数分布に基づく計数逐次抜取方式のデザイン
- ワイブル分布に基づく計数抜取試験の例 (形状パラメータ既知)
- 時間線図による信頼性試験データの見える化
- 動作状態 (OS) 図
- データ解析 (DA) 図
- CHM法
- ワイブル解析 (演習)
- ワイブル確率紙解析法
- 累積ハザード法
- (参考) CAREソフトによるワイブル解析
- 質疑応答
会場
受講料
- 1名様: 46,278円(税別) / 50,905円(税込)
割引特典について
- R&D支援センターからの案内登録をご希望の方は、割引特典を受けられます。
- 1名でお申込みいただいた場合、1名につき 43,750円 (税別) / 47,250円 (税込)
- 複数名で同時にお申し込みいただいた場合、1名につき 23,139円 (税別) / 24,990円 (税込)
- 案内登録をされない方は、1名につき 46,278円 (税別) / 49,980円 (税込)