信頼性試験の必須基礎知識と効率的な進め方
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会場 開催
本セミナーでは、故障モデルや信頼性試験の基礎知識を概説し、データ解析、抜き取り試験、加速試験の進め方や留意点をわかりやすく説明いたします。
日時
2015年12月21日 10時00分
〜
2015年12月21日 17時00分
開催予定
プログラム
トラブル未然防止と信頼性七つ道具 (R7)
トラブルの未然防止
三位一体の信頼性・安全性解析
信頼性の基礎
故障とは
ストレス
故障メカニズム
故障モード
信頼性の尺度
信頼度
故障率
寿命の代表値
MTTF
MTBF
ビーテン寿命
システムの信頼性モデル
直列モデル
鎖モデル
並列モデル
綱モデル
バスタブ曲線に基づく故障分布モデル
指数分布
ワイブル分布
信頼性試験運用の基礎知識
なぜ信頼性試験を行うのか
信頼性試験のいろいろ
信頼性試験で気をつけたいこと
計画面
実行面
立ちはだかる「数と時間の壁」
故障物理の基礎
故障モデルの全体マップ
加速試験を支える故障モデル
ストレス・強度モデル
累積損傷モデル
マイナー則
反応論モデル
アレニウス則
アイリング則
固有技術に基づく代表的な故障成長モデル
機械的劣化現象
クリープ
疲労
クラック
応力腐食
化学的劣化現象
酸化
腐食
イオンマイグレーション
汚染
熱的劣化現象
熱疲労
合金化
溶断
結晶欠陥
電気的劣化現象
過電圧/過電流
静電破壊
放電
エレクトロマイグレーション
溶断
加速寿命試験の原理
経験に基づく加速の方法
加速性の成立条件と加速係数
故障物理モデルに基づく加速試験法
アレニウス則
θ度則
べき乗則
複合ストレスの加速モデル
加速試験で気をつけること
(参考) 定性的加速試験法 (
HALT
) について
信頼性抜取試験法
信頼性抜取試験の原理
信頼性抜取試験のいろいろ
指数分布に基づく計数一回抜取方式のデザイン (演習含む)
LTFR保証型
基準型
JIS
C 5003 電子部品の故障率試験方法通則の要点
指数分布に基づく計数逐次抜取方式のデザイン
ワイブル分布に基づく計数抜取試験の例 (形状パラメータ既知)
信頼性試験データの解析手法
時間線図による信頼性試験データの見える化
動作状態 (OS) 図
データ解析 (DA) 図
CHM法
ワイブル解析 (演習)
ワイブル確率紙解析法
累積ハザード法
(参考) CAREソフトによるワイブル解析
偶発故障データの統計的推定法 (演習)
計数データの解析法
まとめ
質疑応答
会場
江東区役所 商工情報センター (カメリアプラザ)
136-0071
東京都
江東区
亀戸2-19-1
江東区役所 商工情報センター (カメリアプラザ)の地図
受講料
1名様: 46,278円(税別) / 50,905円(税込)
割引特典について
R&D支援センターからの案内登録をご希望の方は、割引特典を受けられます。
1名でお申込みいただいた場合、1名につき 43,750円 (税別) / 47,250円 (税込)
複数名で同時にお申し込みいただいた場合、1名につき 23,139円 (税別) / 24,990円 (税込)
案内登録をされない方は、1名につき 46,278円 (税別) / 49,980円 (税込)