ゼロデフェクトに対応する車載半導体の信頼性 5時間集中講座

半導体は車載/非車載に分化しつつある。車載半導体は、「0デフェクト」と言われる品質目標を達成する必要があり、欠陥の「作らず対策」と「流さず対策」が積み重ねられてきた。微細化する最近のICはSi回路基板化し、検査率の低下やイミュニティ設計の欠如が懸念される状況となっている。 　本講座では、こうした半導体設計段階での信頼性課題を中心に解説する。

1. 自動車技術の動向
2. 電子システム開発動向と半導体
3. 半導体応用技術
   1. 電子設計保証
   2. 電子品質保証
4. ゼロデフェクト
   1. 車載半導体
   2. 潜在欠陥
   3. スクリーニング
   4. 検査率
   5. テストガードバンド
   6. 欠陥の流出
5. EOS故障
   1. ESD
   2. システムレベルESD
   3. ESD耐量
   4. ESD故障
6. 誤動作
   1. EMC設計
   2. 誤動作メカニズム
   3. ESDイミュニティ
   4. イミュニティ設計
7. 半田寿命
• 質疑応答・名刺交換